| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 引言 | 第8-22页 |
| 1.1 钙钛矿锰氧化物的基本结构与电磁性质 | 第8-10页 |
| 1.1.1 锰氧化物的晶体结构及磁结构 | 第8-9页 |
| 1.1.2 庞磁电阻效应(CMR) | 第9-10页 |
| 1.2 锰氧化物中的主要物理机制 | 第10-13页 |
| 1.2.1 晶体场与Jahn-Teller(JT)畸变 | 第10-11页 |
| 1.2.2 超交换相互作用 | 第11-12页 |
| 1.2.3 双交换模型 | 第12-13页 |
| 1.3 锰氧化物薄膜中的应力效应 | 第13-15页 |
| 1.3.1 应力对于结构的改变 | 第13页 |
| 1.3.2 应力对于薄膜性质的调控 | 第13-15页 |
| 1.4 LaCoO_3的基本结构与特性 | 第15-18页 |
| 1.5 钙钛矿氧化物异质结构中的奇异界面性质。 | 第18-19页 |
| 1.6 钙钛矿锰氧化物各向异性的调制 | 第19-20页 |
| 1.7 论文选题思路及主要内容 | 第20-22页 |
| 第2章 实验方法 | 第22-28页 |
| 2.1 样品的制备 | 第22页 |
| 2.1.1 靶材的烧结 | 第22页 |
| 2.2 脉冲激光沉积(PLD)法制薄膜 | 第22-24页 |
| 2.2.1 脉冲激光沉积技术介绍 | 第22-23页 |
| 2.2.2 脉冲激光技术的优缺点 | 第23-24页 |
| 2.2.3 脉冲激光沉积制备薄膜过程 | 第24页 |
| 2.3 薄膜样品的表征 | 第24-26页 |
| 2.3.1 原子力显微镜(AFM) | 第25页 |
| 2.3.2 薄膜的厚度测量 | 第25页 |
| 2.3.3 X-射线衍射 | 第25-26页 |
| 2.4 薄膜磁性研究 | 第26页 |
| 2.5 透射电镜 | 第26-28页 |
| 第3章 LaCoO_3/La_(0.67)Sr_(0.33)MnO_3/LaCoO_3/SrTiO_3结构表征 | 第28-34页 |
| 3.1 研究背景简介 | 第28页 |
| 3.2 样品制备 | 第28-30页 |
| 3.3 LCO层的暗条纹 | 第30-33页 |
| 3.4 总结 | 第33-34页 |
| 第4章 异质结界面耦合调控的磁各向异性 | 第34-44页 |
| 4.1 磁化取向的转变 | 第34-39页 |
| 4.2 应力对各向异性的影响 | 第39-42页 |
| 4.3 总结 | 第42-44页 |
| 第5章 结论与展望 | 第44-46页 |
| 参考文献 | 第46-50页 |
| 个人简历及发表文章目录 | 第50-52页 |
| 致谢 | 第52页 |