基于ARM的频率特性分析仪的设计
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-11页 |
| 1.1 频率特性分析仪研究意义 | 第8页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第8-9页 |
| 1.3 本文的主要工作及结构安排 | 第9-11页 |
| 第二章 系统总体设计方案 | 第11-15页 |
| 2.1 频率特性的测量方法 | 第11-12页 |
| 2.2 两种测量方法的比较 | 第12-13页 |
| 2.3 数字频率特性分析仪的总体方案设计 | 第13-14页 |
| 2.4 本系统的主要技术指标 | 第14-15页 |
| 第三章 扫频信号源的设计 | 第15-27页 |
| 3.1 频率合成技术 | 第15-16页 |
| 3.2 直接数字频率合成(DDS)技术 | 第16-17页 |
| 3.3 信号源设计 | 第17-21页 |
| 3.3.1 信号源总体设计方案 | 第17-18页 |
| 3.3.2 AD9850 芯片简介 | 第18-19页 |
| 3.3.3 AD9850 工作原理 | 第19-21页 |
| 3.4 信号调理电路设计 | 第21-27页 |
| 3.4.1 低通滤波器电路 | 第21-24页 |
| 3.4.2 输出程控衰减电路 | 第24-26页 |
| 3.4.3 功率控制电路 | 第26-27页 |
| 第四章 幅值相位检测电路的设计 | 第27-34页 |
| 4.1 幅值相位检测电路设计方案 | 第27-28页 |
| 4.2 幅值相位检测电路 | 第28-34页 |
| 4.2.1 增益相位检测器AD8302 | 第28-30页 |
| 4.2.2 信号调理 | 第30-32页 |
| 4.2.3 模数转换电路 | 第32-34页 |
| 第五章 控制电路的设计 | 第34-40页 |
| 5.1 S3C2440 处理器简介 | 第34页 |
| 5.2 控制部分系统框图 | 第34-35页 |
| 5.3 控制模块的硬件设计 | 第35-38页 |
| 5.3.1 S3C2440 存储器的扩展 | 第35-36页 |
| 5.3.2 LCD 电路和触摸电路的设计 | 第36-37页 |
| 5.3.3 S3C2440 电源模块设计 | 第37-38页 |
| 5.3.4 S3C2440 的JTAG 模块设计 | 第38页 |
| 5.4 控制模块软件设计 | 第38-40页 |
| 第六章 系统调试和实验 | 第40-42页 |
| 6.1 DDS 扫频信号源测试 | 第40-41页 |
| 6.2 幅值检测电路测试 | 第41-42页 |
| 第七章 总结与展望 | 第42-43页 |
| 7.1 工作总结 | 第42页 |
| 7.2 展望 | 第42-43页 |
| 参考文献 | 第43-45页 |
| 致谢 | 第45-46页 |
| 附录I 攻读学位其间发表的论文 | 第46-47页 |
| 详细摘要 | 第47-51页 |
