| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 课题研究的背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.1.1 课题来源 | 第10页 |
| 1.1.2 课题研究的意义 | 第10-11页 |
| 1.2 课题的研究现状 | 第11-13页 |
| 1.2.1 国内相关理论研究现状 | 第11-12页 |
| 1.2.2 国内相关产品研究现状 | 第12-13页 |
| 1.3 本论文的主要内容 | 第13-14页 |
| 第2章 系统整体设计 | 第14-32页 |
| 2.1 测量原理 | 第14-18页 |
| 2.1.1 硬件同步采样原理 | 第14-16页 |
| 2.1.2 电机运行状态的判定 | 第16-18页 |
| 2.2 系统硬件组成 | 第18页 |
| 2.3 主控设计 | 第18-22页 |
| 2.3.1 TMS320F2812 芯片简介 | 第18-20页 |
| 2.3.2 TMS320F2812 系统外围电路设计 | 第20-22页 |
| 2.4 采样保持及 A/D 转换电路 | 第22-24页 |
| 2.4.1 ADS8364 芯片简介 | 第22页 |
| 2.4.2 A/D 前端调理电路设计 | 第22-23页 |
| 2.4.3 ADS8364 与 TMS320F2812 的接口设计 | 第23-24页 |
| 2.5 系统外围电路 | 第24-29页 |
| 2.5.1 信号输入电路和分档放大电路 | 第24-26页 |
| 2.5.2 锁相环电路设计 | 第26页 |
| 2.5.3 频率测量电路设计 | 第26-27页 |
| 2.5.4 系统时钟设计 | 第27页 |
| 2.5.5 液晶、键盘电路设计 | 第27-29页 |
| 2.5.6 USB-NET 存储电路设计 | 第29页 |
| 2.6 测试系统的特点 | 第29-30页 |
| 2.7 测试系统硬件的抗干扰设计 | 第30-31页 |
| 2.8 本章小结 | 第31-32页 |
| 第3章 测试系统软件设计 | 第32-37页 |
| 3.1 主程序设计 | 第32-33页 |
| 3.2 键值处理子程序设计 | 第33-34页 |
| 3.3 信号采样/转换子程序设计 | 第34-35页 |
| 3.4 频率测量子程序设计 | 第35-36页 |
| 3.5 本章小结 | 第36-37页 |
| 第4章 测试系统的误差分析及实验验证 | 第37-44页 |
| 4.1 误差分析 | 第37-39页 |
| 4.1.1 误差来源 | 第37-39页 |
| 4.1.2 误差合成 | 第39页 |
| 4.1.3 分析结论 | 第39页 |
| 4.2 实验验证 | 第39-43页 |
| 4.2.1 测试系统的软硬件调试 | 第39-40页 |
| 4.2.2 测试系统的实验验证 | 第40-43页 |
| 4.2.3 验证结论 | 第43页 |
| 4.3 本章小结 | 第43-44页 |
| 结论 | 第44-45页 |
| 参考文献 | 第45-48页 |
| 附录 | 第48-53页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54页 |