| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| 1.1 引言 | 第7-8页 |
| 1.2 晶振简介 | 第8-11页 |
| 1.2.1 晶振基本概述 | 第8-9页 |
| 1.2.2 晶振的分类 | 第9页 |
| 1.2.3 晶振的历史 | 第9-10页 |
| 1.2.4 晶振的发展趋势 | 第10-11页 |
| 1.3 低相噪晶体振荡器的国内外发展状况 | 第11页 |
| 1.4 本文研究的主要内容和章节安排 | 第11-13页 |
| 第二章 晶体振荡器短期频率稳定度的时频域表示及转化 | 第13-29页 |
| 2.1 频率稳定度和相位噪声 | 第13页 |
| 2.2 相位噪声的概念及其表征 | 第13-19页 |
| 2.2.1 相位噪声的频域表征 | 第14-15页 |
| 2.2.2 相位噪声的时域表征 | 第15-19页 |
| 2.3 从相位噪声到取样方差的转换 | 第19-24页 |
| 2.4 从相位噪声到阿仑方差的转换 | 第24-29页 |
| 2.4.1 实用的转化方法之一：查表法 | 第25-27页 |
| 2.4.2 使用的转化方法之二：线性近似法 | 第27-29页 |
| 第三章 晶体振荡器的噪声降低技术 | 第29-59页 |
| 3.1 振荡电路设计技术 | 第29-39页 |
| 3.1.1 集总元件振荡系统 | 第29-32页 |
| 3.1.2 传输线振荡系统 | 第32-39页 |
| 3.2 低频加载和反馈的优化 | 第39-44页 |
| 3.3 滤波技术 | 第44-49页 |
| 3.4 噪声-转移技术 | 第49-52页 |
| 3.5 阻抗噪声匹配 | 第52-55页 |
| 3.6 非线性反馈环路噪声的抑制 | 第55-59页 |
| 第四章 晶体振荡器的电路设计与分析 | 第59-73页 |
| 4.1 传统高稳恒温晶体振荡器的设计原理及讨论 | 第59-63页 |
| 4.2 晶体振荡器的电路设计 | 第63-67页 |
| 4.3 电路参数选择及影响频率的因素分析解决 | 第67-73页 |
| 4.3.1 压控恒温晶体振荡器 | 第67-68页 |
| 4.3.2 石英晶体 | 第68-69页 |
| 4.3.3 晶体老化分析 | 第69-73页 |
| 第五章 电路的调试和相位噪声测量分析 | 第73-83页 |
| 5.1 试制过程概况 | 第73-74页 |
| 5.1.1 晶体振荡器PCB版图设计 | 第73页 |
| 5.1.2 石英晶体振荡器的封装形式 | 第73-74页 |
| 5.1.3 注意事项 | 第74页 |
| 5.2 测试及调试结果 | 第74-80页 |
| 5.2.1 频率一温度特性测试 | 第74-75页 |
| 5.2.2 老化漂移的测试方案及结果 | 第75-78页 |
| 5.2.3 噪声测量 | 第78-80页 |
| 5.3 相位噪声测量分析 | 第80-83页 |
| 结束语 | 第83-85页 |
| 致谢 | 第85-87页 |
| 参考文献 | 第87-91页 |
| 在读期间的研究成果 | 第91页 |