永磁材料静态磁特性测试系统的设计与实现
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 课题的研究背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 磁性材料分类 | 第10-11页 |
| 1.3 几种磁性参数测试方法介绍 | 第11-12页 |
| 1.4 国内外研究概况及研究方向 | 第12页 |
| 1.5 论文的主要工作和结构 | 第12-14页 |
| 第2章 永磁材料静态磁参数测试原理 | 第14-31页 |
| 2.1 静态磁参数的意义 | 第14-15页 |
| 2.2 磁化曲线与磁滞回线 | 第15-16页 |
| 2.3 磁场强度的测试原理 | 第16-18页 |
| 2.3.1 霍尔效应法 | 第17页 |
| 2.3.2 电磁感应法 | 第17-18页 |
| 2.4 H线圈与J线圈的设计 | 第18-21页 |
| 2.4.1 H线圈的设计 | 第19-20页 |
| 2.4.2 J线圈的设计 | 第20-21页 |
| 2.5 数字积分器的选择与分析 | 第21-28页 |
| 2.5.1 数字积分基本原理 | 第22-24页 |
| 2.5.2 数字积分算法选择 | 第24-27页 |
| 2.5.3 采样率和分辨率的确定 | 第27-28页 |
| 2.6 数字积分器的标定 | 第28-30页 |
| 2.6.1 标定原理 | 第28-29页 |
| 2.6.2 磁通量标定的测试与分析 | 第29-30页 |
| 2.7 本章小结 | 第30-31页 |
| 第3章 永磁材料测试系统的硬件设计 | 第31-45页 |
| 3.1 系统总体硬件方案设计 | 第31-32页 |
| 3.2 电源模块设计 | 第32页 |
| 3.3 主控模块设计 | 第32-35页 |
| 3.3.1 STM32F103芯片介绍 | 第32-33页 |
| 3.3.2 A/D、D/A模块介绍 | 第33-35页 |
| 3.4 充退磁模块设计 | 第35-38页 |
| 3.4.1 磁场发生装置的设计 | 第35-36页 |
| 3.4.2 压控恒流源的设计 | 第36-37页 |
| 3.4.3 磁场换向电路的设计 | 第37-38页 |
| 3.5 信号采集与处理模块设计 | 第38-43页 |
| 3.5.1 前端放大电路设计 | 第38-40页 |
| 3.5.2 低通滤波电路设计 | 第40页 |
| 3.5.3 双门限比较电路设计 | 第40-42页 |
| 3.5.4 电压平移电路设计 | 第42-43页 |
| 3.6 RS-485 通信模块设计 | 第43-44页 |
| 3.7 本章小结 | 第44-45页 |
| 第4章 永磁材料参数测试系统的软件设计 | 第45-55页 |
| 4.1 系统主程序 | 第45-46页 |
| 4.2 系统充退磁控制程序 | 第46-49页 |
| 4.3 增益控制子程序 | 第49-50页 |
| 4.4 数据采集与处理子程序 | 第50-52页 |
| 4.5 磁参数计算子程序 | 第52-53页 |
| 4.6 通信子程序 | 第53-54页 |
| 4.7 本章小结 | 第54-55页 |
| 第5章 样品测试与误差分析 | 第55-65页 |
| 5.1 上位机编译环境简述 | 第55-56页 |
| 5.2 测试实验及数据分析 | 第56-62页 |
| 5.2.1 测试实验及上位机显示 | 第56-58页 |
| 5.2.2 实验数据分析 | 第58-62页 |
| 5.3 测试误差来源分析 | 第62-64页 |
| 5.3.1 系统本身误差分析 | 第62-63页 |
| 5.3.2 外界因素引起的误差 | 第63-64页 |
| 5.4 本章小结 | 第64-65页 |
| 总结与展望 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 附录A 攻读硕士学位期间所发表的学术成果 | 第71-72页 |
| 附录B 攻读硕士学位期间所参加的科研项目 | 第72页 |
