摘要 | 第3-4页 |
abstract | 第4页 |
第1章 引言 | 第7-27页 |
1.1 选题背景及意义 | 第7-8页 |
1.2 电子能量损失谱简介 | 第8-10页 |
1.3 电子能量损失磁手性二向色性(EMCD)技术简介 | 第10-15页 |
1.3.1 EMCD技术的创立 | 第10-11页 |
1.3.2 EMCD技术的原理 | 第11-13页 |
1.3.3 EMCD技术的加和定则 | 第13-14页 |
1.3.4 EMCD技术的样品局限 | 第14-15页 |
1.4 电子涡旋束简介 | 第15-21页 |
1.4.1 涡旋束的基本特点 | 第15-17页 |
1.4.2 电子涡旋束在EMCD技术中的应用 | 第17-18页 |
1.4.3 电子涡旋束的产生 | 第18-21页 |
1.5 ptychography重构成像技术简介 | 第21-25页 |
1.5.1 并行投影算法 | 第22页 |
1.5.2 扩展PIE算法 | 第22-24页 |
1.5.3 ptychography重构成像实验 | 第24-25页 |
1.6 研究目标和内容 | 第25-27页 |
第2章 非晶材料EMCD测量方法 | 第27-39页 |
2.1 非晶材料EMCD实验设计 | 第27-28页 |
2.2 非晶样品体系 | 第28-32页 |
2.2.1 非晶样品的制备 | 第28-29页 |
2.2.2 非晶样品的成分表征 | 第29-30页 |
2.2.3 非晶样品的晶型结构表征 | 第30-31页 |
2.2.4 非晶样品的宏观磁性能表征 | 第31页 |
2.2.5 非晶样品的XMCD信号测量 | 第31-32页 |
2.3 非晶样品EMCD信号的获取及分析 | 第32-34页 |
2.3.1 非晶样品EMCD信号获取 | 第32-34页 |
2.3.2 非晶样品EMCD信号定量分析 | 第34页 |
2.4 非晶样品EMCD信号的理论计算 | 第34-38页 |
2.4.1 非晶样品EMCD信号的理论推导 | 第34-37页 |
2.4.2 非晶样品EMCD信号的计算结果 | 第37-38页 |
2.5 本章小结 | 第38-39页 |
第3章 利用刃位错拓扑缺陷产生电子涡旋束 | 第39-52页 |
3.1 刃位错产生电子涡旋束的原理 | 第39-40页 |
3.2 电子束照明条件 | 第40-42页 |
3.3 NiO刃位错分析 | 第42-44页 |
3.3.1 NiO样品的制备方法 | 第42页 |
3.3.2 NiO刃位错表征 | 第42页 |
3.3.3 NiO刃位错的几何相位分析 | 第42-44页 |
3.4 利用NiO刃位错产生电子涡旋束的实验及模拟结果 | 第44-49页 |
3.4.1 刃位错的电子衍射 | 第44-46页 |
3.4.2 刃位错的连续扫描衍射图样及模拟结果 | 第46-49页 |
3.5 利用ptychography算法重构刃位错出射波 | 第49-51页 |
3.6 本章小结 | 第51-52页 |
第4章 中锰钢回火阶段Mn元素的位错通道扩散 | 第52-57页 |
4.1 5Mn钢样品制备及实验方法 | 第52-53页 |
4.2 铁素体和渗碳体的Mn元素分布 | 第53-54页 |
4.3 回火期间位错处的Mn元素富集 | 第54-55页 |
4.4 回火期间Mn元素位错通道扩散的原位测定 | 第55-56页 |
4.5 本章小结 | 第56-57页 |
第5章 结论 | 第57-58页 |
参考文献 | 第58-63页 |
致谢 | 第63-65页 |
个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第65页 |