摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6页 |
第1章 绪论 | 第10-12页 |
1.1 课题研究的背景 | 第10页 |
1.2 国内研究进展和动态 | 第10-11页 |
1.3 本课题研究基础和论文结构 | 第11页 |
1.3.1 研究基础 | 第11页 |
1.3.2 论文结构 | 第11页 |
1.4 本章小结 | 第11-12页 |
第2章 有载分接开关和有载分接开关测试仪的现状分析 | 第12-30页 |
2.1 电阻式有载分接开关 | 第12-18页 |
2.1.1 外置型电阻式有载分接开关 | 第12-16页 |
2.1.2 埋入型电阻式有载分接开关 | 第16-18页 |
2.2 电抗式有载分接开关 | 第18-19页 |
2.2.1 外置型电抗式有载分接开关 | 第18页 |
2.2.2 埋入型电抗式有载分接开关 | 第18-19页 |
2.3 有载分接开关测试仪的分类 | 第19-20页 |
2.4 有载分接开关测试仪的系统介绍和测试操作方法 | 第20-27页 |
2.4.1 系统介绍 | 第20页 |
2.4.2 测试操作方法 | 第20-27页 |
2.4.3 测试仪操作时的注意事项 | 第27页 |
2.5 有载分接开关发展方向及其测试仪的现状 | 第27-28页 |
2.5.1 有载分接开关的发展方向 | 第27-28页 |
2.5.2 有载分接开关测试仪国内外生产状况 | 第28页 |
2.6 本章小结 | 第28-30页 |
第3章 有载分接开关测试仪的试验及分析 | 第30-53页 |
3.1 试验目的 | 第30页 |
3.2 试验条件 | 第30-32页 |
3.2.1 环境及试验条件 | 第30页 |
3.2.2 试验所用标准器及其它设备的介绍 | 第30-32页 |
3.2.3 试验标准器及其它设备技术指标 | 第32页 |
3.3 试验项目和试验方法 | 第32-37页 |
3.3.1 试验项目 | 第32页 |
3.3.2 试验方法 | 第32-37页 |
3.4 有载分接开关测试仪样品介绍 | 第37-38页 |
3.5 试验结果 | 第38-51页 |
3.5.1 样品1试验 | 第38-40页 |
3.5.2 样品2试验 | 第40-42页 |
3.5.3 样品3试验 | 第42-43页 |
3.5.4 样品4试验 | 第43-45页 |
3.5.5 样品5试验 | 第45-47页 |
3.5.6 样品6试验 | 第47-49页 |
3.5.7 样品7试验 | 第49-51页 |
3.6 试验结果分析 | 第51-52页 |
3.6.1 过渡电阻测量最大允许误差公式 | 第51页 |
3.6.2 过渡电阻测量分辨力 | 第51页 |
3.6.3 过渡时间测量 | 第51页 |
3.6.4 恒压源 | 第51页 |
3.6.5 恒流源 | 第51-52页 |
3.6.6 绝缘电阻 | 第52页 |
3.6.7 频耐压试验 | 第52页 |
3.7 本章小结 | 第52-53页 |
第4章 有载分接开关测试仪示值误差的测量不确定度评定 | 第53-60页 |
4.1 测量不确定度 | 第53-55页 |
4.1.1 测量不确定度概述 | 第53页 |
4.1.2 标准不确定度的A类评定 | 第53-54页 |
4.1.3 标准不确定度的B类评定 | 第54页 |
4.1.4 合成标准不确定度的评定 | 第54-55页 |
4.1.5 扩展不确定度的评定 | 第55页 |
4.2 电阻器和信号发生器对测试仪示值误差的测量不确定度评定 | 第55-59页 |
4.2.1 测量方法 | 第55页 |
4.2.2 测量环境 | 第55页 |
4.2.3 测量标准器 | 第55页 |
4.2.4 被测对象 | 第55页 |
4.2.5 数学模型 | 第55-56页 |
4.2.6 方差和传播系数 | 第56页 |
4.2.7 不确定度来源 | 第56页 |
4.2.8 标准不确定度一览表 | 第56-57页 |
4.2.9 标准不确定度分量计算 | 第57-58页 |
4.2.10 合成标准不确定度u_c | 第58-59页 |
4.2.11 扩展不确定度U | 第59页 |
4.3 本章小结 | 第59-60页 |
第5章 结论与展望 | 第60-61页 |
结论 | 第60页 |
展望 | 第60-61页 |
参考文献 | 第61-64页 |
致谢 | 第64页 |