| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-45页 |
| 1.1 引言 | 第11页 |
| 1.2 透明导电薄膜 | 第11-18页 |
| 1.2.1 透明导电薄膜的工作机理 | 第12-13页 |
| 1.2.2 透明导电薄膜的分类 | 第13-18页 |
| 1.3 银纳米线的制备 | 第18-20页 |
| 1.4 银纳米线的纯化 | 第20-23页 |
| 1.5 银纳米线涂布液的制备 | 第23-26页 |
| 1.6 银纳米线透明导电薄膜的制备 | 第26-31页 |
| 1.7 本课题的提出和主要研究内容 | 第31-32页 |
| 参考文献 | 第32-45页 |
| 第二章 银纳米线的制备及纯化 | 第45-63页 |
| 2.1 引言 | 第45-46页 |
| 2.2 实验部分 | 第46-49页 |
| 2.2.1 材料和试剂 | 第46页 |
| 2.2.2 银纳米线的制备及纯化 | 第46-48页 |
| 2.2.3 表征方法 | 第48-49页 |
| 2.3 结果与讨论 | 第49-59页 |
| 2.3.1 直径48 nm银纳米线形貌表征 | 第49-50页 |
| 2.3.2 离心、负压抽滤及正压过滤对银纳米线纯化效果的影响 | 第50页 |
| 2.3.3 直径48nm银纳米线正压过滤后的形貌表征 | 第50-52页 |
| 2.3.4 正压过滤纯化银纳米线的机理探讨 | 第52-53页 |
| 2.3.5 直径21nm超细银纳米线的形貌表征 | 第53-54页 |
| 2.3.6 混匀仪脉冲时间对超细银纳米线纯化的影响 | 第54-56页 |
| 2.3.7 锥形瓶的规格对超细银纳米线纯化的影响 | 第56-57页 |
| 2.3.8 丙酮纯化20nm超细银纳米线机理探讨 | 第57-59页 |
| 2.4 本章小结 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-63页 |
| 第三章 银纳米线涂布液的制备及薄膜性能探究 | 第63-75页 |
| 3.1 引言 | 第63-64页 |
| 3.2 实验部分 | 第64-65页 |
| 3.2.1 主要试剂 | 第64页 |
| 3.2.2 银纳米线涂布液及导电薄膜的制备 | 第64-65页 |
| 3.2.3 表征方法 | 第65页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第65-72页 |
| 3.3.1 涂布液中分散剂浓度对银纳米线导电薄膜电学性能的影响 | 第65-67页 |
| 3.3.2 涂布液中粘结剂的浓度对银纳米线导电薄膜电学性能的影响 | 第67-68页 |
| 3.3.3 涂布液中粘结剂的浓度对银纳米线导电薄膜光学性能的影响 | 第68-69页 |
| 3.3.4 涂布液中分散剂的作用机理探讨 | 第69-72页 |
| 3.4 本章小结 | 第72-74页 |
| 参考文献 | 第74-75页 |
| 第四章 超低雾度AgNW导电薄膜的制备及性能研究 | 第75-93页 |
| 4.1 引言 | 第75-76页 |
| 4.2 实验部分 | 第76-77页 |
| 4.2.1 主要试剂 | 第76页 |
| 4.2.2 超低雾度银纳米线导电薄膜的制备 | 第76-77页 |
| 4.2.3 表征方法 | 第77页 |
| 4.3 结果与讨论 | 第77-89页 |
| 4.3.1 形貌特征 | 第77-78页 |
| 4.3.2 银纳米线的湿膜厚度对AgNW TCF光电性能的影响 | 第78-81页 |
| 4.3.3 改性的丙烯酸树脂涂层对AgNW TCF光电性能的影响 | 第81-82页 |
| 4.3.4 OC湿膜厚度对AgNW TCF光学性能的影响 | 第82-83页 |
| 4.3.5 光学改善层OC降低AgNW TCFs雾度的机理讨论 | 第83-85页 |
| 4.3.6 流平剂对AgNW TCFs光电性能的影响 | 第85-88页 |
| 4.3.7 超低雾度的AgNW TCF在触控领域的应用 | 第88-89页 |
| 4.4 本章小结 | 第89-91页 |
| 参考文献 | 第91-93页 |
| 第五章 本论文有待进一步解决的问题 | 第93-95页 |
| 第六章 全文总结与展望 | 第95-97页 |
| 6.1 全文总结 | 第95页 |
| 6.2 本论文的创新点 | 第95-96页 |
| 6.3 展望 | 第96-97页 |
| 致谢 | 第97-99页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第99页 |
