中文摘要 | 第3-5页 |
英文摘要 | 第5-6页 |
1 绪论 | 第10-24页 |
1.1 研究背景及意义 | 第10-12页 |
1.1.1 现代电网中的直流电网 | 第10-11页 |
1.1.2 气体绝缘电气设备 | 第11-12页 |
1.2 固体电介质表面电荷测量方法 | 第12-16页 |
1.2.1 粉尘图法 | 第13-14页 |
1.2.2 基于Pockels效应的光学测量方法 | 第14-15页 |
1.2.3 静电探头法 | 第15-16页 |
1.3 表面积聚电荷研究现状 | 第16-21页 |
1.3.1 表面电荷积聚和消散的研究 | 第16-19页 |
1.3.2 积聚电荷对于绝缘子绝缘性能的影响 | 第19-20页 |
1.3.3 存在的问题 | 第20-21页 |
1.4 论文的主要内容与技术路线 | 第21-24页 |
1.4.1 主要研究内容 | 第21-22页 |
1.4.2 技术路线 | 第22-24页 |
2 可控气体环境下聚合物表面电荷测量与实验平台 | 第24-48页 |
2.1 实验对象分析及装置要求 | 第24-25页 |
2.2 电极与试品 | 第25-30页 |
2.2.1 平行平板电极模型结构 | 第26-27页 |
2.2.2 针-板电极模型结构 | 第27页 |
2.2.3 平面电极模型结构 | 第27-28页 |
2.2.4 电极与试品设计 | 第28-30页 |
2.3 试品表面电荷测量设备的选择 | 第30-32页 |
2.4 实验腔及表面电位测量机构 | 第32-44页 |
2.4.1 实验腔 | 第32-34页 |
2.4.2 顶盖与套管 | 第34页 |
2.4.3 测量运动机构 | 第34-40页 |
2.4.4 运动控制系统 | 第40-42页 |
2.4.5 温度控制系统 | 第42-44页 |
2.5 可可控气体环境下介质表面电荷测量与实验平台 | 第44-45页 |
2.6 本章小结 | 第45-48页 |
3 基于表面电位测量的介质表面电荷计算 | 第48-58页 |
3.1 表面视在电荷法 | 第48-52页 |
3.2 基于模拟电荷法的表面电荷反演计算 | 第52-56页 |
3.2.1 计算原理 | 第52-54页 |
3.2.2 基于COMSOL电场仿真的表面电荷计算 | 第54-56页 |
3.3 模型假设验证与计算结果验证 | 第56-57页 |
3.3.1 模型假设验证 | 第56-57页 |
3.3.2 计算结果验证 | 第57页 |
3.4 本章小结 | 第57-58页 |
4 聚合物电介质表面电荷动态特性 | 第58-86页 |
4.1 实验步骤及方法 | 第58-59页 |
4.2 不同条件下的电荷积聚特性 | 第59-74页 |
4.2.1 不同加压方式下的电荷积聚 | 第59-71页 |
4.2.2 不同温度对电荷积聚的影响 | 第71-74页 |
4.3 不同条件下的电荷消散 | 第74-81页 |
4.3.1 直接加压及闪络后积聚电荷消散 | 第75-76页 |
4.3.2 电晕处理后积聚电荷消散 | 第76-78页 |
4.3.3 消散过程中出现的局部电荷密度增长 | 第78-81页 |
4.4 介质表面积聚电荷的微观分布 | 第81-85页 |
4.4.1 介质表面的双极性积聚 | 第81-83页 |
4.4.2 不同实验条件下试品表面积聚电荷的微观分布 | 第83-84页 |
4.4.3 积聚电荷消散速率及温度敏感性分析 | 第84-85页 |
4.4.4 积聚电荷密度逆增长分析 | 第85页 |
4.5 本章小结 | 第85-86页 |
5 表面积聚电荷对绝缘子沿面闪络特性的影响 | 第86-98页 |
5.1 基于流注发展的闪络条件 | 第86-87页 |
5.1.1 闪络条件 | 第86-87页 |
5.1.2 闪络路径选择 | 第87页 |
5.2 实验方法与步骤 | 第87-88页 |
5.3 直接加压及闪络对后续闪络的影响 | 第88-92页 |
5.3.1 连续闪络的稳定效应 | 第88-91页 |
5.3.2 不同温度下的连续闪络稳定电压 | 第91-92页 |
5.4 电电晕处理对闪络的影响 | 第92-96页 |
5.5 本章小结 | 第96-98页 |
6 结论与展望 | 第98-100页 |
6.1 主要结论 | 第98-99页 |
6.2 工作展望 | 第99-100页 |
致谢 | 第100-102页 |
参考文献 | 第102-110页 |
附录 | 第110页 |
A. 作者在攻读学位期间发表的论文目录 | 第110页 |
B. 作者在攻读学位期间取得的科研成果目录 | 第110页 |
C. 作者在攻读博士学位期间参与的科研课题 | 第110页 |