椭圆弯晶谱仪数据采集与处理
摘要 | 第5-6页 |
abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第11-15页 |
1.1 研究工作的背景与意义 | 第11-12页 |
1.2 CCD的应用状况 | 第12-13页 |
1.3 国内外研究历史与现状 | 第13页 |
1.4 本文主要研究内容 | 第13-14页 |
1.5 论文结构安排 | 第14-15页 |
第二章 整体系统结构 | 第15-17页 |
2.1 系统结构框图 | 第15页 |
2.2 系统结构介绍 | 第15-16页 |
2.2.1 硬件系统功能介绍 | 第15页 |
2.2.2 软件系统功能介绍 | 第15-16页 |
2.2.3 上位机功能介绍 | 第16页 |
2.2.4 系统数据流向 | 第16页 |
2.3 本章小结 | 第16-17页 |
第三章 硬件系统设计 | 第17-39页 |
3.1 硬件系统介绍 | 第17-18页 |
3.2 硬件系统工作流程 | 第18-19页 |
3.3 CCD选型及简介 | 第19-23页 |
3.3.1 电荷产生 | 第19-20页 |
3.3.2 电荷存储 | 第20-21页 |
3.3.3 电荷转移 | 第21-22页 |
3.3.4 电荷输出 | 第22-23页 |
3.4 CCD分类 | 第23-24页 |
3.5 CCD特性参数指标 | 第24-25页 |
3.5.1 转移率η与损失率?的关系及其意义 | 第24页 |
3.5.2 非线性度 | 第24-25页 |
3.5.3 动态范围 | 第25页 |
3.5.4 灵敏度 | 第25页 |
3.5.5 噪声 | 第25页 |
3.6 CCD及其外围电路设计 | 第25-27页 |
3.7 模数转换模块设计 | 第27-31页 |
3.7.1 CCD输出信号分析 | 第27-28页 |
3.7.2 模数转换过程 | 第28-30页 |
3.7.3 AD采样电路设计 | 第30-31页 |
3.8 CPLD时序产生模块及数据转换 | 第31-33页 |
3.8.1 时钟电路设计 | 第31-33页 |
3.8.2 复位电路设计 | 第33页 |
3.9 电源与地模块设计 | 第33-36页 |
3.9.1 5V~3.3V电路 | 第34页 |
3.9.2 5V~ 15V电路设计 | 第34-35页 |
3.9.3 +5V~ -7V电路 | 第35-36页 |
3.9.4 数字地DGND与模拟地隔离AGND | 第36页 |
3.10 印制电路板设计 | 第36-38页 |
3.10.1 分层式设计 | 第36-37页 |
3.10.2 铺铜式设计 | 第37页 |
3.10.3 等长线设计 | 第37页 |
3.10.4 PCB布局布线 | 第37-38页 |
3.11 本章小结 | 第38-39页 |
第四章 软件系统设计 | 第39-56页 |
4.1 软件系统简介 | 第39页 |
4.2 图像数据降噪处理 | 第39-41页 |
4.2.1 降噪处理的意义 | 第39页 |
4.2.2 图像噪声分析 | 第39-40页 |
4.2.3 噪声分类 | 第40页 |
4.2.4 图像去噪算法 | 第40-41页 |
4.3 均值滤波 | 第41页 |
4.4 中值滤波 | 第41-42页 |
4.5 傅里叶变换 | 第42-44页 |
4.5.1 傅里叶变换(FT)定义 | 第42-44页 |
4.6 小波变换 | 第44-46页 |
4.6.1 小波定义 | 第44-45页 |
4.6.2 小波特性 | 第45页 |
4.6.3 小波去噪原理 | 第45-46页 |
4.6.4 小波去噪过程 | 第46页 |
4.7 小波基的选择 | 第46-47页 |
4.7.1 正交性 | 第46-47页 |
4.7.2 紧支性 | 第47页 |
4.7.3 消失矩 | 第47页 |
4.8 常用的小波基 | 第47-49页 |
4.8.1 Haar小波 | 第47-48页 |
4.8.2 Mexican Hat小波 | 第48页 |
4.8.3 Morlet小波 | 第48-49页 |
4.9 DDDTCWT自适应选取领域窗口图像去噪 | 第49-55页 |
4.9.1 离散小波变换 | 第49-50页 |
4.9.2 双树复小波变换 | 第50-51页 |
4.9.3 双密度小波变换 | 第51页 |
4.9.4 双密度双树复小波变换 | 第51-53页 |
4.9.5 双变量收缩函数 | 第53-54页 |
4.9.6 自适应选取领域窗口图像去噪 | 第54-55页 |
4.9.7 算法实现 | 第55页 |
4.10 总结 | 第55-56页 |
第五章 系统调试与结果分析 | 第56-62页 |
5.1 硬件系统调试方法 | 第56-60页 |
5.1.1 硬件测试环境 | 第56页 |
5.1.2 调试过程概述 | 第56-57页 |
5.1.3 具体调试步骤 | 第57页 |
5.1.4 硬件测试结果 | 第57-60页 |
5.2 软件系统测试 | 第60-61页 |
5.3 本章小结 | 第61-62页 |
第六章 总结与展望 | 第62-64页 |
致谢 | 第64-65页 |
参考文献 | 第65-69页 |