| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第11-15页 |
| 1.1 引言 | 第11-12页 |
| 1.2 研究的目的及意义 | 第12页 |
| 1.3 国内外在该方向的研究现状及分析 | 第12-13页 |
| 1.4 本文主要研究内容及章节安排 | 第13-15页 |
| 第2章 系统理论分析和研究 | 第15-29页 |
| 2.1 测试系统基本原理分析 | 第15页 |
| 2.2 光的偏振理论分析 | 第15-20页 |
| 2.2.1 偏振光的琼斯矢量表示 | 第16-18页 |
| 2.2.2 偏振光的斯托克斯矢量描述 | 第18-19页 |
| 2.2.3 偏振光的邦加球表示法 | 第19-20页 |
| 2.3 偏振相关损耗理论分析 | 第20-22页 |
| 2.3.1 偏振相关损耗的影响 | 第20-21页 |
| 2.3.2 PDL理论分析 | 第21-22页 |
| 2.4 偏振控制器理论 | 第22-27页 |
| 2.4.1 偏振控制器分类及工作原理 | 第22-24页 |
| 2.4.2 挤压光纤型偏振控制器控制理论分析 | 第24-27页 |
| 2.5 回波损耗理论分析 | 第27-28页 |
| 2.5.1 回波损耗的原理 | 第27-28页 |
| 2.5.2 回波损耗的影响 | 第28页 |
| 2.6 本章小结 | 第28-29页 |
| 第3章 系统硬件电路设计 | 第29-45页 |
| 3.1 系统总体方案设计与性能指标 | 第29-30页 |
| 3.2 光电探测器的选择 | 第30-33页 |
| 3.2.1 光电探测器的分类 | 第31-32页 |
| 3.2.2 铟镓砷（InGaAs）PIN型光电二极管 | 第32-33页 |
| 3.3 偏振相关损耗测量 | 第33-43页 |
| 3.3.1 偏振相关损耗测量方法 | 第33-35页 |
| 3.3.2 硬件电路总体设计 | 第35-36页 |
| 3.3.3 偏振控制电路 | 第36-37页 |
| 3.3.4 模拟信号处理 | 第37-40页 |
| 3.3.5 主控系统和A/D转换电路 | 第40-41页 |
| 3.3.6 数据通信 | 第41-42页 |
| 3.3.7 电源电路设计 | 第42-43页 |
| 3.4 回波损耗测量 | 第43-44页 |
| 3.4.1 回波损耗的测量方法 | 第43-44页 |
| 3.4.2 回波损耗测量总体设计 | 第44页 |
| 3.5 本章小结 | 第44-45页 |
| 第4章 系统软件设计 | 第45-57页 |
| 4.1 测试系统软件流程图 | 第45-46页 |
| 4.2 数据采集与处理 | 第46-47页 |
| 4.3 基于LabVIEW的上位机软件设计 | 第47-51页 |
| 4.4 自适应加权数据融合算法数据处理 | 第51-56页 |
| 4.5 本章小结 | 第56-57页 |
| 第5章 结果及误差分析 | 第57-64页 |
| 5.1 测试系统的调试 | 第57-61页 |
| 5.1.1 系统软硬件调试 | 第57-58页 |
| 5.1.2 系统结果验证 | 第58-61页 |
| 5.2 偏振相关损耗误差分析 | 第61-62页 |
| 5.3 回波损耗误差分析 | 第62-63页 |
| 5.4 本章小结 | 第63-64页 |
| 结论 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 攻读硕士期间发表（含录用）的学术论文 | 第69页 |