基于Pcap01的ECT系统设计
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-13页 |
| ·过程层析成像技术 | 第8-9页 |
| ·电容层析成像（ECT）技术 | 第9页 |
| ·ECT 系统研究现状 | 第9-11页 |
| ·本文主要工作 | 第11-12页 |
| ·本章小结 | 第12-13页 |
| 第2章 ECT 系统电容检测技术 | 第13-17页 |
| ·电容检测电路关键要素 | 第13-14页 |
| ·传统电容检测电路 | 第14-15页 |
| ·交流锁相放大电容检测电路 | 第14页 |
| ·直流充/放电电容检测电路 | 第14-15页 |
| ·集成芯片电容检测电路 | 第15-16页 |
| ·本章小结 | 第16-17页 |
| 第3章 ECT 系统硬件设计 | 第17-31页 |
| ·ECT 系统整体设计 | 第17页 |
| ·ECT 电容传感器 | 第17-22页 |
| ·ECT 传感器结构参数对系统性能的影响 | 第18-19页 |
| ·本课题传感器结构及参数 | 第19-22页 |
| ·微小电容数据采集系统 | 第22-30页 |
| ·电容数据采集电路的组成 | 第22-23页 |
| ·电容数据采集的实现 | 第23-25页 |
| ·杂散电容的抑制 | 第25-28页 |
| ·极板的切换 | 第28-29页 |
| ·采集系统的控制电路 | 第29-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第4章 ECT 系统的软件设计 | 第31-43页 |
| ·下位机功能介绍 | 第31页 |
| ·下位机编程 | 第31-35页 |
| ·Pcap01 的配置 | 第31-34页 |
| ·STM32 程序设计 | 第34-35页 |
| ·上位机功能介绍 | 第35-37页 |
| ·Qt 简介 | 第35-36页 |
| ·Qt 的信号和槽机制 | 第36-37页 |
| ·上位机功能介绍 | 第37页 |
| ·上位机编程 | 第37-42页 |
| ·串口通讯功能的实现 | 第37-39页 |
| ·图像重建功能 | 第39-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第5章 实验结果及分析 | 第43-53页 |
| ·系统实验装置 | 第43-44页 |
| ·数值采集实验 | 第44-47页 |
| ·精确度实验 | 第47-48页 |
| ·稳定度实验 | 第48页 |
| ·二维图像重建实验 | 第48-50页 |
| ·系统不足与改进 | 第50-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第6章 结论 | 第53-55页 |
| 参考文献 | 第55-59页 |
| 在学研究成果 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60页 |
