| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-14页 |
| ·课题的来源及意义 | 第11页 |
| ·PXI 综合测试仪发展概况 | 第11-12页 |
| ·课题研究的内容 | 第12页 |
| ·论文章节安排 | 第12-14页 |
| 第二章 理论基础与总体设计 | 第14-21页 |
| ·总体需求 | 第14页 |
| ·需求分析 | 第14-15页 |
| ·误码测试理论依据 | 第15-16页 |
| ·m 序列的性质 | 第15页 |
| ·m 序列产生的原理 | 第15-16页 |
| ·PXI 综合测试仪误码测试原理 | 第16页 |
| ·测试仪主要技术指标 | 第16-18页 |
| ·PXI 综合测试仪总体设计方案 | 第18-20页 |
| ·硬件总体方案 | 第18-19页 |
| ·软件总体方案 | 第19-20页 |
| ·本章小结 | 第20-21页 |
| 第三章 PXI 综合测试仪硬件设计 | 第21-35页 |
| ·PXI 测试板卡总线接口设计 | 第23-27页 |
| ·PXI 总线规范 | 第23-25页 |
| ·PXI 总线接口技术 | 第25-27页 |
| ·单元 CPU 电路设计 | 第27-28页 |
| ·测试接口电路设计 | 第28-34页 |
| ·模拟口电路设计 | 第28-30页 |
| ·数字口电路设计 | 第30页 |
| ·V.24 口电路设计 | 第30-31页 |
| ·V.35 口电路设计 | 第31-33页 |
| ·E1 口电路设计 | 第33页 |
| ·以太网口电路设计 | 第33-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 第四章 软件设计与实现 | 第35-46页 |
| ·仪器界面程序设计 | 第35-36页 |
| ·主界面 | 第35-36页 |
| ·测试界面 | 第36页 |
| ·仪器驱动程序设计 | 第36-37页 |
| ·仪器测试功能程序开发 | 第37-45页 |
| ·FPGA 程序设计 | 第37-41页 |
| ·单元嵌入式程序设计 | 第41-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第五章 设备调试与测试 | 第46-74页 |
| ·设备调试及问题分析 | 第46-65页 |
| ·单元硬件调试及问题分析 | 第46-53页 |
| ·单元软件调试及问题分析 | 第53-61页 |
| ·整机调试及问题分析 | 第61-65页 |
| ·主要指标测试 | 第65-72页 |
| ·模拟口测试 | 第65-66页 |
| ·数字口测试 | 第66-67页 |
| ·V.24 口测试 | 第67页 |
| ·V.35 口测试 | 第67-68页 |
| ·E1 口测试 | 第68-69页 |
| ·以太网口测试 | 第69-70页 |
| ·电源适应性 | 第70页 |
| ·功耗 | 第70-71页 |
| ·绝缘电阻 | 第71页 |
| ·介电强度 | 第71-72页 |
| ·泄漏电流 | 第72页 |
| ·本章小结 | 第72-74页 |
| 第六章 结束语 | 第74-76页 |
| ·总结 | 第74页 |
| ·存在的问题 | 第74-75页 |
| ·展望 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-79页 |
| 附录 | 第79-89页 |
| A.1 PCI 本地总线接口 FPGA 程序源代码 | 第79-81页 |
| A.2 单元 CPU 总线接口 FPGA 程序源代码 | 第81-84页 |
| A.3 测试数据产生模块程序源代码 | 第84页 |
| A.4 测试数据检测模块程序源代码 | 第84-87页 |
| A.5 设备照片 | 第87页 |
| A.6 板卡照片 | 第87-89页 |