Si-PIN X射线探测器性能研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 1 绪论 | 第7-14页 |
| ·研究背景 | 第7-9页 |
| ·硬 X 射线调制望远镜 HXMT | 第9-12页 |
| ·调制望远镜 | 第9-10页 |
| ·中能望远镜 | 第10-12页 |
| ·硬 X 射线调制望远镜的科学意义和主要任务 | 第12页 |
| ·论文完成的工作 | 第12-14页 |
| 2 空间X射线天文 | 第14-21页 |
| ·探测技术发展 | 第14页 |
| ·X 射线与物质的相互作用 | 第14-21页 |
| ·X 射线的吸收 | 第15-16页 |
| ·X 射线的散射 | 第16-21页 |
| 3 Si-PIN 探测器偏压选取与温度特性研究 | 第21-52页 |
| ·X 射线探测器 | 第21-30页 |
| ·探测原理 | 第21页 |
| ·探测器的基本参数 | 第21-23页 |
| ·几种常用的探测器 | 第23-30页 |
| ·Si-PIN 探测器测试系统设计 | 第30-40页 |
| ·半导体致冷原理 | 第34-35页 |
| ·半导体致冷器件 | 第35-36页 |
| ·Si-PIN 探测器测试系统标定 | 第36-40页 |
| ·Si-PIN 探测器的主要技术指标 | 第40-43页 |
| ·暗电流 | 第40-42页 |
| ·耗尽层厚度 | 第42页 |
| ·结电容 | 第42-43页 |
| ·探测器噪声 | 第43页 |
| ·Si-PIN 探测器偏置电压选取 | 第43-47页 |
| ·偏压特性 | 第43-44页 |
| ·Si-PIN 探测器偏压特性实验 | 第44-47页 |
| ·Si-PIN 探测器温度特性研究 | 第47-51页 |
| ·温度特性 | 第47页 |
| ·Si-PIN 探测器温度特性实验 | 第47-49页 |
| ·温度特性实验能谱分析 | 第49-51页 |
| ·小结 | 第51-52页 |
| 4 Si-PIN 探测器质子辐照性能研究 | 第52-57页 |
| ·核辐射效应 | 第52页 |
| ·Si-PIN 探测器质子辐照性能研究 | 第52-56页 |
| ·质子辐照位移损伤 | 第52-53页 |
| ·辐照试验及数据分析 | 第53-56页 |
| ·小结 | 第56-57页 |
| 5 总结 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-63页 |
| 附录 | 第63-74页 |
| 致谢 | 第74页 |
