基于虚拟仪器的IGBT自动测试系统研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 致谢 | 第7-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-18页 |
| ·自动测试系统概述 | 第13-14页 |
| ·第一代自动测试系统 | 第13页 |
| ·第二代自动测试系统 | 第13-14页 |
| ·第三代自动测试系统 | 第14页 |
| ·虚拟仪器技术和LabVIEW | 第14-16页 |
| ·虚拟仪器的概念 | 第14页 |
| ·虚拟仪器的构成 | 第14-15页 |
| ·LabVIEW软件简介 | 第15-16页 |
| ·课题概况 | 第16-18页 |
| ·课题研究的现状与意义 | 第16-17页 |
| ·课题研究的目的与任务 | 第17-18页 |
| 第二章 IGBT参数的基本测试方法研究 | 第18-29页 |
| ·绝缘栅双极晶体管IGBT简介 | 第18-21页 |
| ·IGBT的基本结构和工作原理 | 第18页 |
| ·IGBT的基本特性 | 第18-20页 |
| ·IGBT功率模块 | 第20-21页 |
| ·IGBT的测试参数和基本测试方法 | 第21-29页 |
| ·栅极—发射极阈值电压测试 | 第21-22页 |
| ·栅极—发射极漏电流测试 | 第22页 |
| ·集电极—发射极截止电流测试 | 第22-23页 |
| ·集电极—发射极饱和电压测试 | 第23-24页 |
| ·开关时间测试 | 第24-26页 |
| ·恢复时间测试 | 第26-29页 |
| 第三章 IGBT驱动和保护电路研究 | 第29-39页 |
| ·IGBT的驱动电路 | 第29-35页 |
| ·IGBT驱动电路的基本要求 | 第29-31页 |
| ·IGBT驱动器的电路形式及特点 | 第31-34页 |
| ·栅极驱动PWM控制信号源的研究 | 第34-35页 |
| ·IGBT保护电路的设计 | 第35-39页 |
| ·IGBT的过压保护 | 第35-37页 |
| ·IGBT的过流保护 | 第37-38页 |
| ·IGBT的过热保护 | 第38-39页 |
| 第四章 IGBT自动测试系统的硬件设计 | 第39-48页 |
| ·系统的硬件设计 | 第39-41页 |
| ·系统总体结构 | 第39-40页 |
| ·系统主要硬件组成 | 第40-41页 |
| ·测试系统硬件电路的设计 | 第41-47页 |
| ·参数测试模块电路的设计 | 第42-45页 |
| ·IGBT驱动和保护电路的设计 | 第45-47页 |
| ·系统测试要求和主要技术指标 | 第47-48页 |
| 第五章 IGBT自动测试系统的软件设计 | 第48-66页 |
| ·系统软件的总体设计 | 第48-50页 |
| ·软件开发平台的选择 | 第48页 |
| ·系统软件的层次结构 | 第48-49页 |
| ·系统软件模块结构 | 第49-50页 |
| ·系统管理模块的设计 | 第50-53页 |
| ·系统驱动软件 | 第50-51页 |
| ·系统初始化与自检 | 第51-52页 |
| ·系统参数管理 | 第52-53页 |
| ·数据管理模块的设计 | 第53-55页 |
| ·参数测试模块的设计 | 第55-65页 |
| ·栅极—发射极漏电流测试模块 | 第56-58页 |
| ·栅极—发射极阈值电压测试模块 | 第58-59页 |
| ·集电极—发射极饱和电压测试模块 | 第59页 |
| ·IGBT开关时间测试模块 | 第59-63页 |
| ·续流二极管反向恢复时间测试模块 | 第63-65页 |
| ·测试结果分析 | 第65-66页 |
| 第六章 总结与展望 | 第66-68页 |
| ·工作总结 | 第66页 |
| ·展望 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-71页 |
| 硕士研究生期间发表论文清单 | 第71页 |
