基于红外焦平面阵列测试的超低噪声直流偏置技术研究

摘要	第1-4页
Abstract	第4-7页
第一章 绪论	第7-11页
·红外焦平面阵列的概念	第7页
·红外焦平面阵列技术和发展现状	第7-9页
·本文研究内容及安排	第9-11页
第二章 红外焦平面阵列测试系统的测试原理	第11-17页
·概述	第11页
·红外焦平面阵列主要性能参数	第11-12页
·红外焦平面阵列测试系统的总体需求和总体结构	第12-17页
·红外焦平面阵列测试系统的总体需求	第12-14页
·红外焦平面阵列测试系统的总体结构	第14-17页
第三章 直流偏置源对系统性能的影响	第17-23页
·一般电子系统中的噪声	第17-19页
·电子系统中噪声的定义和分类	第17-18页
·电子系统中噪声的抑制与衰减技术	第18-19页
·探测器的噪声	第19-20页
·直流偏置源的性能指标和关键技术分析	第20-23页
·主要性能指标分析	第20-21页
·可编程的高精度步进调节	第21页
·噪声抑制技术及测量	第21-22页
·EMC 技术	第22页
·主要器件的选型	第22-23页
第四章 直流偏置源的设计与实现	第23-61页
·直流偏置源的设计方案和总体结构	第23-24页
·直流偏置源的硬件设计	第24-42页
·微控制器模块的选择与实现	第24-29页
·电源模块的实现	第29-34页
·光电隔离模块的实现	第34-35页
·精准偏置电压模块的实现	第35-39页
·射随输出模块的实现	第39-42页
·直流偏置源的软件设计	第42-61页
·SPI 串行通信	第43-52页
·CAN 通信	第52-61页
第五章 直流偏置源测试与分析	第61-65页
·直流偏置源的测试结果	第61-62页
·直流偏置源的应用分析	第62-65页
第六章 总结	第65-66页
致谢	第66-67页
参考文献	第67-70页
在读期间研究成果	第70-71页