红外焦平面阵列测试数据采集与评价技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·红外热成像技术 | 第7页 |
| ·红外焦平面阵列技术 | 第7-9页 |
| ·红外焦平面阵列技术原理 | 第7-8页 |
| ·红外焦平面阵列的分类以及发展现状 | 第8-9页 |
| ·红外焦平面阵列测试技术的发展 | 第9-10页 |
| ·红外焦平面阵列的成像特点以及存在的问题 | 第9页 |
| ·红外焦平面阵列测试系统的意义 | 第9-10页 |
| ·红外焦平面阵列测试系统的发展现状 | 第10页 |
| ·论文的主要研究内容 | 第10-13页 |
| 第二章 红外焦平面阵列的测试方法 | 第13-27页 |
| ·红外焦平面阵列的性能参数 | 第13-14页 |
| ·红外焦平面阵列的工作条件 | 第13-14页 |
| ·各种性能参数的定义 | 第14页 |
| ·各种性能参数的测试方法 | 第14-19页 |
| ·平均响应率 | 第15-16页 |
| ·平均噪声电压 | 第16页 |
| ·无效像元 | 第16-18页 |
| ·响应率不均匀性 | 第18页 |
| ·测试平台应满足条件 | 第18-19页 |
| ·测试数据统计分析方法 | 第19-27页 |
| ·红外焦平面阵列的噪声特征 | 第19-20页 |
| ·数据的关联性分析 | 第20-21页 |
| ·高阶统计量理论 | 第21-23页 |
| ·非高斯非线性检测方法 | 第23-27页 |
| 第三章 红外焦平面阵列测试系统设计 | 第27-35页 |
| ·红外焦平面阵列测试系统的总体结构 | 第27-28页 |
| ·系统的硬件构成 | 第28-30页 |
| ·可编程步进调节直流偏置及电源模块 | 第28页 |
| ·可编程驱动时钟脉冲源 | 第28-29页 |
| ·高速信号获取、调理与采集模块 | 第29-30页 |
| ·系统的软件部分 | 第30-35页 |
| ·软件总体分析 | 第30页 |
| ·波形编辑程序设计 | 第30-31页 |
| ·器件测试应用程序设计 | 第31-35页 |
| 第四章 红外焦平面阵列测试数据采集系统设计 | 第35-65页 |
| ·数据采集系统总体方案设计 | 第35-38页 |
| ·数据采集系统的硬件设计 | 第38-52页 |
| ·电源部分设计 | 第38-40页 |
| ·A/D 转换电路 | 第40-43页 |
| ·FPGA 模块设计 | 第43-48页 |
| ·大容量存储模块设计 | 第48-49页 |
| ·USB 电路设计 | 第49-52页 |
| ·数据采集系统的固件程序设计 | 第52-64页 |
| ·USB 的程序设计 | 第52-56页 |
| ·FPGA 程序开发 | 第56-64页 |
| ·测试数据的处理与显示 | 第64-65页 |
| 第五章 测试数据的分析与评价 | 第65-75页 |
| ·测试数据预处理 | 第65-69页 |
| ·采样数据的标定变换 | 第65页 |
| ·消除多项式趋势项 | 第65-67页 |
| ·噪声的计算 | 第67-69页 |
| ·单像元多帧序列的相关性 | 第69-71页 |
| ·非高斯非线性检测 | 第71-75页 |
| ·噪声组成 | 第71页 |
| ·接地噪声的检测 | 第71-72页 |
| ·器件噪声的检测 | 第72-75页 |
| 第六章 结束语 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-80页 |
| 研究成果 | 第80-81页 |
