基于边界扫描技术的复杂数字电路板的可测试性分析
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-8页 |
第一章 绪论 | 第8-14页 |
·研究的背景和意义 | 第8-9页 |
·课题相关技术国内外的发展及研究现状 | 第9-13页 |
·可测性技术的发展 | 第9-10页 |
·可测性设计的方法 | 第10-11页 |
·边界扫描技术 | 第11-13页 |
·本文的选题来源及主要研究内容 | 第13-14页 |
第二章 边界扫描技术基础 | 第14-25页 |
·边界扫描器件标准结构 | 第14-22页 |
·测试存取口TAP | 第15-16页 |
·TAP 控制器 | 第16-18页 |
·指令寄存器 | 第18-19页 |
·数据寄存器组 | 第19-21页 |
·指令 | 第21-22页 |
·边界扫描描述语言(BSDL) | 第22-25页 |
第三章 基于边界扫描的电路板测试方法及应用 | 第25-34页 |
·边界扫描测试的基本理论和数学模型 | 第25-28页 |
·基本概念及故障类型 | 第25-26页 |
·边界扫描测试数学模型 | 第26-28页 |
·边界扫描在板级电路的应用 | 第28-34页 |
·板级边界扫描链路的基本方式 | 第28-30页 |
·边界扫描技术在电路板测试中的应用 | 第30-32页 |
·边界扫描技术对电路板工作流程的影响 | 第32-33页 |
·边界扫描在板级测试方面的优势 | 第33-34页 |
第四章 基于边界扫描的可测性设计方案 | 第34-42页 |
·被测板简介 | 第34-36页 |
·被测板的DFT 改进 | 第36-40页 |
·器件的选择 | 第36-37页 |
·扫描链的设计 | 第37-40页 |
·板级电路的边界扫描DFT 方案 | 第40-42页 |
第五章 测试过程及问题分析 | 第42-60页 |
·测试系统硬件 | 第42-43页 |
·测试系统软件 | 第43页 |
·测试过程 | 第43-55页 |
·硬件参数的配置 | 第43-44页 |
·扫描链完整性测试 | 第44-47页 |
·互连测试 | 第47-55页 |
·遇到的问题及解决方法 | 第55-57页 |
·提高故障覆盖率的措施 | 第57-60页 |
结束语 | 第60-61页 |
致谢 | 第61-62页 |
参考文献 | 第62-64页 |
研究成果 | 第64页 |