当代TOF-SIMS在航天器污染分析中的可能应用
| 第1章 引言 | 第1-18页 |
| ·研究航天器污染的重要性 | 第8页 |
| ·航天器污染检测方法 | 第8-14页 |
| ·航天器污染总量检测方法 | 第8-11页 |
| ·航天器污染成份检测方法 | 第11-13页 |
| ·几种航天器污染检测方法的比较 | 第13-14页 |
| ·飞行时间二次离子质谱的进展 | 第14页 |
| ·选题背景 | 第14-15页 |
| ·样品与实验仪器 | 第15-17页 |
| ·论文各部分的主要内容 | 第17-18页 |
| 第2章 微量航天器污染成份的分析能力 | 第18-26页 |
| ·ITO 膜样品的分析概述 | 第18-19页 |
| ·ITO 膜样品的EDS 分析研究 | 第19-22页 |
| ·ITO 膜样品的部分分析结果 | 第19-22页 |
| ·小结 | 第22页 |
| ·ITO 膜样品的FT-IR 分析研究 | 第22-24页 |
| ·几种检测方法的比较 | 第24-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第3章 航天器污染元素和化合物的分析能力 | 第26-39页 |
| ·TOF-SIMS 高的质量分辨本领 | 第26-27页 |
| ·ITO 膜样品的TOF-SIMS 分析结果 | 第27-29页 |
| ·ITO 膜样品的质谱元素和化合物解析 | 第29-33页 |
| ·ITO 膜样品的污染成份的可能来源 | 第33页 |
| ·锗基片样品污染成份的分析结果 | 第33-35页 |
| ·石英基片样品污染成份的分析结果 | 第35-37页 |
| ·本章小结 | 第37-39页 |
| 第4章 航天器污染成份像的分析能力 | 第39-49页 |
| ·ITO 膜样品的TOF-SIMS 的分析结果 | 第39-41页 |
| ·ITO 膜样品的成份成像的分析与结果 | 第41-44页 |
| ·锗基片样品的成像分析结果 | 第44-45页 |
| ·石英基片样品的分析结果 | 第45-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 结论 | 第49-51页 |
| 参考文献 | 第51-54页 |
| 致谢 | 第54页 |
| 声明 | 第54-55页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第55-56页 |
