| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 插图索引 | 第8-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-18页 |
| 1． 1 数字系统的测试 | 第10-11页 |
| 1． 2 模拟系统的测试 | 第11-13页 |
| 1． 3 混合电路测试 | 第13-14页 |
| 1． 4 AMSS故障诊断 | 第14-16页 |
| 1． 5 本课题研究的主要内容 | 第16-17页 |
| 1． 6 本文的主要工作 | 第17-18页 |
| 第2章 基本理论 | 第18-25页 |
| 2． 1 随机过程的基本知识 | 第18-20页 |
| 2． 1． 1 随机过程的定义及其统计描述 | 第18-19页 |
| 2． 1． 2 平稳随机过程 | 第19页 |
| 2． 1． 3 各态历经过程 | 第19-20页 |
| 2． 2 线性时不变系统 | 第20-23页 |
| 2． 3 实验平台pspice软件介绍 | 第23-24页 |
| 2． 4 小结 | 第24-25页 |
| 第3章 伪随机序列发生器及其实现 | 第25-31页 |
| 3． 1 线性反馈移位寄存器(LFSR) | 第25-27页 |
| 3． 2 m序列的伪随机特征 | 第27-28页 |
| 3． 3 用LFSR作为白噪声发生器及其pspice模拟实现 | 第28-30页 |
| 3． 4 小结 | 第30-31页 |
| 第4章 基于伪随机激励的混合电路的测试 | 第31-52页 |
| 4． 1 测试原理 | 第31-33页 |
| 4． 2 三种统计量的分析比较 | 第33-38页 |
| 4． 2． 1 硬件实现的比较 | 第35-36页 |
| 4． 2． 2 测试效果的比较 | 第36-38页 |
| 4． 3 伪随机测试技术 | 第38-39页 |
| 4． 4 空间映射关系 | 第39-40页 |
| 4． 5 影响伪随机测试技术的几个因素分析 | 第40-43页 |
| 4． 5． 1 输入伪随机序列的长度 | 第40-41页 |
| 4． 5． 2 参数K | 第41页 |
| 4． 5． 3 采样频率f_s | 第41-42页 |
| 4． 5． 4 采样精度 | 第42-43页 |
| 4． 6 基于距离的分类算法 | 第43-47页 |
| 4． 6． 1 多元正态分布 | 第43-44页 |
| 4． 6． 2 多元正态分布参数的估计 | 第44-45页 |
| 4． 6． 3 分类算法 | 第45-47页 |
| 4． 7 实验分析 | 第47-49页 |
| 4． 8 K的取值对测试的影响 | 第49页 |
| 4． 9 小结 | 第49-52页 |
| 第5章 基于性能分析的混合电路测试 | 第52-60页 |
| 5． 1 基于性能的电路分析 | 第52-54页 |
| 5． 2非线性规划 | 第54-55页 |
| 5． 3 在Matlab中实现和实验分析 | 第55-58页 |
| 5． 4 小结 | 第58-60页 |
| 结论 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 附录A 攻读学位期间发表论文 | 第68页 |