第一章 绪论 | 第1-12页 |
1.1 现代电子测试与波形分析仪 | 第8-10页 |
1.1.1 波形分析仪在现代电子测试中的作用 | 第8-9页 |
1.1.2 国内外信号分析仪发展概况 | 第9-10页 |
1.2 课题任务与设计指标 | 第10-12页 |
第二章 系统体系结构与工作原理 | 第12-21页 |
2.1 VXI波形分析仪体系结构与工作流程 | 第12-14页 |
2.2 数据采集与DSP处理模块的结构与工作原理 | 第14-21页 |
2.2.1 A/D转换电路 | 第15页 |
2.2.2 高速数据流多相存储电路 | 第15-16页 |
2.2.3 控制与DSP处理电路 | 第16-17页 |
2.2.4 模块通信电路 | 第17-18页 |
2.2.5 ICP电路 | 第18页 |
2.2.6 模块整体工作流程 | 第18-21页 |
第三章 数据采集存储与DSP处理模块设计 | 第21-56页 |
3.1200 MHzA/D转换电路子模块的设计实现 | 第21-24页 |
3.1.1 采样时钟电路设计 | 第22-23页 |
3.1.2 输入信号驱动电路设计 | 第23-24页 |
3.2 高速数据流多项存储电路子模块的设计实现 | 第24-40页 |
3.2.1 多相分离电路的设计 | 第26-30页 |
3.2.2 读写地址产生电路的设计 | 第30-35页 |
3.2.2.1 DSP地址映射电路 | 第31-33页 |
3.2.2.2 SRAM写地址电路 | 第33-35页 |
3.2.2.3 地址输出同步电路 | 第35页 |
3.2.3 读写控制电路实现 | 第35-40页 |
3.2.3.1 控制寄存器分配 | 第36-37页 |
3.2.3.2 触发控制电路实现 | 第37-40页 |
3.2.4 地址、数据同步时钟子模块设计 | 第40页 |
3.3 模块控制逻辑与DSP子模块的设计 | 第40-50页 |
3.3.1 TMS320VC5409 DSP芯片简介 | 第41-45页 |
3.3.1.1 TMS320C54xx内核结构 | 第41-42页 |
3.3.1.2 TMS320VC5409的特征 | 第42-45页 |
3.3.2 DSP硬件电路设计 | 第45-49页 |
3.3.2.1 DSP存储电路 | 第46-48页 |
3.3.2.2 DSP电源与复位电路 | 第48页 |
3.3.2.3 DSP时钟电路 | 第48-49页 |
3.3.3 模块控制逻辑电路设计 | 第49-50页 |
3.4 接口子模块的设计实现 | 第50-56页 |
3.4.1 HPI口设计 | 第51-53页 |
3.4.2 DMA电路设计 | 第53-56页 |
第四章 电路调试与测试 | 第56-65页 |
4.1 CCS与DSP仿真器EMULATOR | 第56-57页 |
4.2 调试用软件设计 | 第57-58页 |
4.3 模块调试 | 第58-60页 |
4.3.1 静态调试 | 第58-59页 |
4.3.2 动态调试 | 第59-60页 |
4.4 模块功能与指标测试 | 第60-65页 |
第五章 结束语 | 第65-66页 |
参考文献 | 第66-67页 |
致谢 | 第67-68页 |
个人简历及研究成果 | 第68页 |