金属带长度测量系统的开发与精度分析
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-19页 |
| ·课题的提出 | 第11-14页 |
| ·国内外金属带技术现状 | 第11-12页 |
| ·金属带组件结构和性能 | 第12-14页 |
| ·光栅编码器应用现状 | 第14-17页 |
| ·金属带长度测量系统组成 | 第17页 |
| ·课题的主要任务 | 第17-19页 |
| 第2章 金属带长度测量系统总体方案 | 第19-25页 |
| ·金属带长度测量系统结构和功能介绍 | 第19-22页 |
| ·金属带长度测量仪机械结构 | 第19-20页 |
| ·测量原理与测量理论基础 | 第20-22页 |
| ·位移光栅尺选择和安装 | 第22-25页 |
| ·光栅尺的选择 | 第22页 |
| ·光栅尺的安装 | 第22-25页 |
| 第3章 系统硬件设计 | 第25-51页 |
| ·单片机系统硬件设计 | 第25-43页 |
| ·系统硬件框图 | 第25页 |
| ·系统主要元件简介 | 第25-34页 |
| ·光栅位移传感器工作原理 | 第34-36页 |
| ·光栅尺信号处理方法 | 第36-37页 |
| ·辨向及倍频细分技术原理 | 第37-40页 |
| ·测量系统中用的辨向及四倍频电路 | 第40-43页 |
| ·单片机硬件电路设计 | 第43-51页 |
| ·电源及接地设计 | 第43页 |
| ·去耦电容设计 | 第43页 |
| ·电磁兼容性(EMC)设计 | 第43-44页 |
| ·输入输出设计 | 第44-45页 |
| ·辨向和倍频细分电路设计 | 第45-48页 |
| ·复位电路设计 | 第48-49页 |
| ·串行通信电路设计 | 第49页 |
| ·硬件电路的PCB设计 | 第49-51页 |
| 第4章 程序设计与调试 | 第51-67页 |
| ·单片机系统软件设计 | 第51-55页 |
| ·单片机软件设计规则和流程 | 第51-53页 |
| ·单片机汇编语言编程 | 第53-54页 |
| ·集成开发环境 | 第54-55页 |
| ·系统软件模块功能分析与设计 | 第55-59页 |
| ·主程序模块 | 第55-56页 |
| ·光栅测量计数及数据处理运算模块 | 第56-58页 |
| ·数据显示输出模块和采集模块 | 第58-59页 |
| ·单片机系统中数字滤波的算法 | 第59-63页 |
| ·单片机系统设计的可靠性 | 第63-67页 |
| ·单片机选型 | 第63页 |
| ·单片机硬件抗干扰 | 第63-64页 |
| ·单片机软件抗干扰 | 第64-65页 |
| ·单片机复位 | 第65页 |
| ·单片机系统可靠性测试 | 第65-66页 |
| ·其他注重问题 | 第66-67页 |
| 第5章 系统调试 | 第67-71页 |
| ·试验系统组成 | 第67页 |
| ·系统调试 | 第67-69页 |
| ·金属带长度测量系统主电路板的调试 | 第68页 |
| ·辨向及四倍频电路调试 | 第68-69页 |
| ·数据采集系统调试 | 第69页 |
| ·故障处理 | 第69-71页 |
| 第6章 金属带测量系统精度分析 | 第71-83页 |
| ·测量仪误差源的组成 | 第71-73页 |
| ·测量仪误差的组成 | 第71-72页 |
| ·测量仪主要误差 | 第72-73页 |
| ·金属带测量系统的精度分析 | 第73-78页 |
| ·系统误差分析与表示方法 | 第74页 |
| ·随机误差分析与表示方法 | 第74-75页 |
| ·粗大误差分析 | 第75页 |
| ·光栅尺测量误差分析 | 第75-76页 |
| ·测量系统的误差合成 | 第76-78页 |
| ·测量数据的处理方法 | 第78-83页 |
| ·建立数据处理的数学模型 | 第78-79页 |
| ·实验数据处理 | 第79-83页 |
| 第7章 结论 | 第83-85页 |
| 参考文献 | 第85-89页 |
| 致谢 | 第89-91页 |
| 附录 | 第91页 |
