非球面环形子孔径拼接干涉测试方法研究

摘要	第1-4页
Abstract	第4-7页
1 绪论	第7-19页
·课题的研究背景	第7-9页
·国内外发展现状	第9-10页
·非球面常用检测方法	第10-17页
·本论文的研究内容以及解决的问题	第17-19页
2 非球面像差特性介绍	第19-24页
·非球面的分类及主要光学性质	第19-20页
·非球面的主要结构参数	第20-24页
3 环形子孔径拼接测试的原理及方法	第24-76页
·测试基本原理	第24-27页
·子孔径拼接算法	第27-29页
·逐次拼接	第27-28页
·综合优化	第28-29页
·数据处理方法	第29-30页
·原理仿真与分析	第30-75页
·理论计算	第30-38页
·待测元件及测试环境的模拟	第38-55页
·实验结果分析	第55-58页
·综合优化全局拼接实验	第58-61页
·噪声实验	第61-65页
·Zernike多项式拟合及消倾斜处理	第65-68页
·环域Zernike多项式拟合研究	第68-75页
·本章小结	第75-76页
4 仿真系统性能及精度分析	第76-80页
·系统稳定性与重复性实验	第76-78页
·系统测量范围	第78-79页
·误差分析	第79-80页
5 结论	第80-82页
致谢	第82-83页
参考文献	第83-86页
附录	第86-112页