Sn及SnPb薄膜表面锡须生长研究
中文摘要 | 第1-4页 |
ABSTRACT | 第4-7页 |
第一章 前言 | 第7-21页 |
·无铅焊料的应用背景 | 第7-9页 |
·电子组装技术 | 第7-8页 |
·SnPb 焊料带来的环境问题 | 第8-9页 |
·现阶段应用及研究的几种无铅焊料 | 第9页 |
·电子封装中的可靠性问题 | 第9-10页 |
·锡须生长机制及研究现状 | 第10-20页 |
·锡须生长 | 第11-12页 |
·锡须生长的危害 | 第12-13页 |
·锡须生长机制的研究现状 | 第13-17页 |
·抑制锡须生长的方法 | 第17-18页 |
·锡须测试标准 | 第18-20页 |
·存在的问题及本论文的工作 | 第20-21页 |
·存在的问题 | 第20页 |
·本论文的工作 | 第20-21页 |
第二章 样品制备及表征 | 第21-24页 |
·样品的制备 | 第21-23页 |
·磁控溅射原理 | 第21-22页 |
·样品的制备 | 第22-23页 |
·样品的表征 | 第23-24页 |
·表面形貌测试仪(台阶仪) | 第23页 |
·环境扫描电子显微镜(ESEM) | 第23页 |
·X 射线能谱仪(EDX) | 第23页 |
·X 射线衍射仪(XRD) | 第23-24页 |
第三章 电迁移效应下的锡须生长 | 第24-44页 |
·电迁移理论及样品结构分析 | 第24-27页 |
·纯 Sn 表面锡须生长 | 第27-35页 |
·纯 Sn 表面锡须生长 | 第27-31页 |
·结果分析 | 第31-35页 |
·SnPb 合金薄膜锡须生长 | 第35-43页 |
·本章总结 | 第43-44页 |
第四章 锡须自发生长 | 第44-50页 |
·Cu 基底表面锡层的锡须生长 | 第44-47页 |
·两种不同的 Sn 薄膜表面锡须生长 | 第47-49页 |
·本章小结 | 第49-50页 |
第五章 结论 | 第50-51页 |
参考文献 | 第51-57页 |
硕士在读期间已发表和已完成的论文 | 第57-58页 |
致谢 | 第58页 |