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Sn及SnPb薄膜表面锡须生长研究

中文摘要第1-4页
ABSTRACT第4-7页
第一章 前言第7-21页
   ·无铅焊料的应用背景第7-9页
     ·电子组装技术第7-8页
     ·SnPb 焊料带来的环境问题第8-9页
     ·现阶段应用及研究的几种无铅焊料第9页
   ·电子封装中的可靠性问题第9-10页
   ·锡须生长机制及研究现状第10-20页
     ·锡须生长第11-12页
     ·锡须生长的危害第12-13页
     ·锡须生长机制的研究现状第13-17页
     ·抑制锡须生长的方法第17-18页
     ·锡须测试标准第18-20页
   ·存在的问题及本论文的工作第20-21页
     ·存在的问题第20页
     ·本论文的工作第20-21页
第二章 样品制备及表征第21-24页
   ·样品的制备第21-23页
     ·磁控溅射原理第21-22页
     ·样品的制备第22-23页
   ·样品的表征第23-24页
     ·表面形貌测试仪(台阶仪)第23页
     ·环境扫描电子显微镜(ESEM)第23页
     ·X 射线能谱仪(EDX)第23页
     ·X 射线衍射仪(XRD)第23-24页
第三章 电迁移效应下的锡须生长第24-44页
   ·电迁移理论及样品结构分析第24-27页
   ·纯 Sn 表面锡须生长第27-35页
     ·纯 Sn 表面锡须生长第27-31页
     ·结果分析第31-35页
   ·SnPb 合金薄膜锡须生长第35-43页
   ·本章总结第43-44页
第四章 锡须自发生长第44-50页
   ·Cu 基底表面锡层的锡须生长第44-47页
   ·两种不同的 Sn 薄膜表面锡须生长第47-49页
   ·本章小结第49-50页
第五章 结论第50-51页
参考文献第51-57页
硕士在读期间已发表和已完成的论文第57-58页
致谢第58页

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