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二硼化镁(MgB2)的超导机理和性能研究

摘要第1-11页
ABSTRACT第11-19页
第一章 超导体简介第19-32页
   ·超导体的基本物理特性第20-25页
     ·零电阻现象第20页
     ·超导相变第20-24页
     ·超导临界参数第24-25页
   ·超导材料发展历史第25-28页
   ·超导机理发展历史第28-29页
   ·参考文献第29-32页
第二章 MgB_2超导材料概述第32-81页
   ·AlB_2 结构超导体以及MgB_2的晶体结构第32-35页
   ·MgB_2中的电-声耦合作用第35-42页
     ·MgB_2的电子结构第35-38页
     ·MgB_2的声子特征第38-40页
     ·MgB_2的电-声耦合特征第40-42页
     ·MgB_2的同位素效应第42页
   ·元素掺杂对MgB_2超导性能的影响第42-49页
     ·铝(Al)掺杂对MgB_2超导性能的影响第44-46页
     ·碳(C)掺杂对MgB_2超导性能的影响第46-48页
     ·过渡金属掺杂对MgB_2超导性能的影响第48-49页
   ·MgB_2临界磁场第49-50页
     ·上临界磁场(H_(c2))第49-50页
     ·不可逆磁场(H_(irr))第50页
   ·MgB_2超导体的临界电流密度和磁通钉扎机理第50-55页
     ·MgB_2超导体的连接性第51-52页
     ·MgB_2超导体的临界电流密度模型第52-55页
   ·MgB_2上临界磁场和临界电流密度的实验观察第55-62页
   ·MgB_2超导体的应用第62页
   ·MgB_2超导性能总结第62-64页
   ·论文的主要研究内容第64页
   ·参考文献第64-81页
第三章 实验原理与实验设备第81-94页
   ·样品制备方法第81-83页
     ·原位(in situ)和非原位(ex situ)烧结第81页
     ·块状样品制备第81页
     ·MgB_2超导线材第81-83页
   ·样品相组成与微结构的表征第83-88页
     ·X 射线衍射(X-ray diffraction (XRD))第84页
     ·扫描电子显微镜(SEM)第84-85页
     ·透射电子显微镜(TEM)第85-86页
     ·拉曼光谱(Raman spectroscopy)第86-88页
   ·电磁性能测量第88-93页
     ·超导转变温度T_c定义第89-90页
     ·临界电流密度J_c计算第90页
     ·上临界磁场H_(c2)及不可逆临界磁场H_(irr)的确定第90-93页
   ·参考文献第93-94页
第四章电-声耦合作用对MgB_2超导电性的影响第94-114页
   ·样品制备及检测第94-95页
   ·样品性能第95-100页
     ·晶格参数,微观结构第95-97页
     ·超导转变温度第97-98页
     ·拉曼光谱与烧结温度的关系第98-100页
   ·电-声耦合分析第100-106页
     ·拉曼光谱与晶体结构的关系第100-104页
     ·E_(2g)声子模对MgB_2超导电性的贡献第104-105页
     ·Raman 峰强度与超导电性的关系第105-106页
   ·钉扎机理分析第106-110页
     ·上临界磁场H_(c2)和不可逆磁场H_(irr)第106-107页
     ·临界电流密度第107-108页
     ·磁通钉扎机理分析第108-110页
   ·结论第110-111页
   ·参考文献第111-114页
第五章元素掺杂对MgB_2超导电性的影响第114-132页
   ·引言第114-115页
   ·样品制备第115-116页
   ·元素掺杂引起的晶格常数和声子变化第116-123页
     ·XRD 图谱以及晶格常数变化第116-117页
     ·Raman 光谱变化第117-119页
     ·Grüneisen 关系第119-123页
   ·MgB_2超导转变温度的提高第123-127页
     ·晶格膨胀效应提高超导转变温度第123-125页
     ·提高MgB_2超导转变温度的限制因素第125-127页
   ·结论第127-128页
   ·参考文献第128-132页
第六章 磁性散射作用对Mg_(1-x)M_xB_2 (M = Fe, Co, Ni)超导电性的影响第132-147页
   ·磁性散射作用对超导电性的影响第132-133页
   ·实验细节第133页
   ·相组成与电磁特性第133-137页
   ·电-声耦合强度第137-144页
     ·E_(2g)声子模对电-声耦合强度贡献第138-141页
     ·超导转变温度降低的原因第141-144页
   ·结论第144页
   ·参考文献第144-147页
第七章 连接性和体系紊乱对碳化硅掺杂MgB_2磁通钉扎力的影响第147-166页
   ·引言第147-148页
   ·样品制备第148页
   ·相组成与电磁性能第148-153页
     ·相组成第148-149页
     ·临界电流密度以及超导转变温度第149-153页
   ·磁通钉扎机理和电-声耦合强度第153-163页
     ·样品连接性第153-155页
     ·H_(irr), H_(c2), 以及F_p第155-157页
     ·Raman 光谱第157-160页
     ·电-声耦合作用第160-163页
   ·结论第163页
   ·参考文献第163-166页
第八章 结论与展望第166-175页
   ·结论第166-167页
   ·展望第167-173页
     ·超导转变温度的提高第167-169页
     ·临界电流密度的提高第169-173页
   ·参考文献第173-175页
文中缩写第175-177页
作者在攻读博士学位期间公开发表的论文第177-183页
作者在攻读博士学位期间所作的项目第183-184页
致谢第184页

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