基于改进动态主元分析的自适应故障诊断方法研究
| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第11-21页 |
| 1.1 课题的研究背景及意义 | 第11-12页 |
| 1.2 故障诊断的基本知识 | 第12-18页 |
| 1.2.1 故障诊断的含义及方法分类 | 第12-15页 |
| 1.2.2 工业过程故障的特性分析 | 第15页 |
| 1.2.3 故障诊断过程及性能评价指标 | 第15-18页 |
| 1.3 课题研究现状 | 第18-19页 |
| 1.4 本文主要工作 | 第19-21页 |
| 第2章 动态主元分析故障诊断方法研究 | 第21-41页 |
| 2.1 主元分析算法 | 第21-25页 |
| 2.1.1 主元分析法的几何理解 | 第21-22页 |
| 2.1.2 主元分析法的基本原理 | 第22-25页 |
| 2.2 基于动态主元分析的故障诊断 | 第25-29页 |
| 2.2.1 动态主元分析原理 | 第25-27页 |
| 2.2.2 动态主元分析故障诊断 | 第27-29页 |
| 2.3 田纳西-伊斯曼过程 | 第29-36页 |
| 2.3.1 TE过程工艺流程图 | 第29-31页 |
| 2.3.2 TE过程变量 | 第31-33页 |
| 2.3.3 TE过程故障 | 第33-34页 |
| 2.3.4 样本数据说明 | 第34-35页 |
| 2.3.5 TE过程动态性分析 | 第35-36页 |
| 2.4 仿真实验 | 第36-39页 |
| 2.5 本章小结 | 第39-41页 |
| 第3章 基于动态核主元分析法的故障诊断 | 第41-53页 |
| 3.1 核主元分析基本理论 | 第41-44页 |
| 3.1.1 核主元分析方法 | 第41-42页 |
| 3.1.2 核主元分析算法 | 第42-43页 |
| 3.1.3 核函数的选择 | 第43-44页 |
| 3.2 基于改进的动态核主元分析的故障诊断 | 第44-49页 |
| 3.2.1 动态核主元分析法 | 第44-45页 |
| 3.2.2 核矩阵计算的改进 | 第45-48页 |
| 3.2.3 改进后的动态核主元分析故障诊断方法 | 第48-49页 |
| 3.3 仿真实验 | 第49-50页 |
| 3.4 本章小结 | 第50-53页 |
| 第4章 基于自适应DKPCA的故障诊断 | 第53-65页 |
| 4.1 自适应主元分析算法 | 第53-56页 |
| 4.1.1 移动窗主元分析 | 第53-54页 |
| 4.1.2 递推主元分析 | 第54-56页 |
| 4.2 基于自适应DKPCA的故障诊断方法 | 第56-59页 |
| 4.2.1 自相关矩阵更新公式推导 | 第56-58页 |
| 4.2.2 自适应DKPCA故障诊断流程 | 第58-59页 |
| 4.3 仿真实验 | 第59-63页 |
| 4.4 本章小结 | 第63-65页 |
| 第5章 总结与展望 | 第65-67页 |
| 5.1 本文总结 | 第65页 |
| 5.2 工作展望 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
