功率模块动态过程中的开关损耗建模研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-20页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第8-10页 |
| 1.1.1 功率模块应用背景与意义 | 第8-9页 |
| 1.1.2 功率模块开关损耗研究背景与意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-17页 |
| 1.2.1 功率模块损耗测试研究现状 | 第10-11页 |
| 1.2.2 功率模块开关损耗计算的研究现状 | 第11-17页 |
| 1.3 研究内容 | 第17-20页 |
| 第二章 功率模块开关损耗测试系统 | 第20-32页 |
| 2.1 功率模块开关特性分析 | 第20-23页 |
| 2.2 功率模块开关特性测试原理 | 第23-25页 |
| 2.3 功率模块开关特性测试系统 | 第25-28页 |
| 2.3.1 IGBT驱动电路的设计 | 第27页 |
| 2.3.2 数据采集电路的设计 | 第27-28页 |
| 2.4 开关损耗测试结果 | 第28-30页 |
| 2.5 本章小结 | 第30-32页 |
| 第三章 功率模块开关损耗建模 | 第32-40页 |
| 3.1 开关损耗的计算 | 第32-34页 |
| 3.2 开关损耗的建模 | 第34-38页 |
| 3.3 本章小结 | 第38-40页 |
| 第四章 基于智能模型的功率模块开关损耗建模 | 第40-52页 |
| 4.1 人工神经网络模型 | 第40-41页 |
| 4.2 基于BP神经网络的开关损耗模型 | 第41-45页 |
| 4.2.1 BP神经网络模型的建立 | 第41-43页 |
| 4.2.2 BP神经网络模型算例 | 第43-45页 |
| 4.3 SVM模型 | 第45-48页 |
| 4.4 基于SVM的开关损耗模型 | 第48-51页 |
| 4.4.1 SVM模型的建立 | 第48页 |
| 4.4.2 SVM模型的算例 | 第48-51页 |
| 4.5 本章小结 | 第51-52页 |
| 第五章 功率模块开关损耗的加速老化模型 | 第52-58页 |
| 5.1 加速老化试验 | 第52-55页 |
| 5.1.1 加速老化试验原理 | 第52-53页 |
| 5.1.2 加速老化试验平台 | 第53-55页 |
| 5.2 加速老化试验条件 | 第55-56页 |
| 5.2.1 加速老化试验应力的确定 | 第55页 |
| 5.2.2 加速老化试验过程与方案 | 第55-56页 |
| 5.3 加速老化试验结果分析 | 第56-57页 |
| 5.4 小结 | 第57-58页 |
| 第六章 结论 | 第58-60页 |
| 6.1 总结 | 第58页 |
| 6.2 工作展望 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 致谢 | 第64-66页 |
| 攻读学位期间所取得的相关科研成果 | 第66页 |
