| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第12-26页 |
| 1.1 课题背景与研究意义 | 第12-13页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第13-25页 |
| 1.2.1 低温纳米压痕测试技术的国内外研究现状 | 第13-17页 |
| 1.2.2 力电耦合压痕响应的国内外研究现状 | 第17-20页 |
| 1.2.3 铁电材料的发展和国内外研究现状 | 第20-25页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第25-26页 |
| 第2章 铁电体纳米压痕测试基本理论与装置简介 | 第26-38页 |
| 2.1 铁电体基本理论 | 第26-29页 |
| 2.1.1 晶体的分类依据与典型材料 | 第26-27页 |
| 2.1.2 铁电体的三大特征 | 第27-29页 |
| 2.1.3 试件材料的选取 | 第29页 |
| 2.2 铁电体力电耦合数据分析方法 | 第29-32页 |
| 2.2.1 热力学方程 | 第29-30页 |
| 2.2.2 电致伸缩方程 | 第30-31页 |
| 2.2.3 压电方程 | 第31-32页 |
| 2.3 微纳米压痕测试的基本理论 | 第32-36页 |
| 2.3.1 微纳米压痕测试的优势 | 第32-33页 |
| 2.3.2 微纳米压痕测试分析计算流程 | 第33-36页 |
| 2.4 自制低温纳米压痕测试装置简介 | 第36-37页 |
| 2.5 本章小结 | 第37-38页 |
| 第3章 低温纳米压痕测试装置的校准与改进 | 第38-52页 |
| 3.1 测试仪器的校准 | 第38-42页 |
| 3.1.1 载荷校准 | 第38-39页 |
| 3.1.2 位移校准 | 第39-40页 |
| 3.1.3 机架柔度校准 | 第40-42页 |
| 3.2 减少低温压痕温漂的改进措施 | 第42-44页 |
| 3.2.1 软件修正法 | 第43页 |
| 3.2.2 硬件修正法 | 第43-44页 |
| 3.3 压痕仪扩展载物台的瞬态热仿真分析 | 第44-49页 |
| 3.4 真空箱航空插头的电压击穿性能测试 | 第49-51页 |
| 3.5 本章小结 | 第51-52页 |
| 第4章 PMN-PT变温电滞回线的测试分析 | 第52-70页 |
| 4.1 试验前准备 | 第52-54页 |
| 4.1.1 外接电学仪器的集成 | 第52页 |
| 4.1.2 试件准备 | 第52-54页 |
| 4.2 PMN-PT室温电滞回线测试 | 第54-56页 |
| 4.3 真空环境对PMN-PT电滞回线的影响 | 第56-58页 |
| 4.3.1 PMN-PT室温真空电滞回线 | 第57页 |
| 4.3.2 结果分析 | 第57-58页 |
| 4.4 温度对PMN-PT电滞回线的影响 | 第58-65页 |
| 4.4.1 PMN-PT低温电滞回线测试 | 第58-62页 |
| 4.4.2 PMN-PT低温饱和电滞回线测试 | 第62-65页 |
| 4.5 测试频率对PMN-PT电滞回线的影响 | 第65-68页 |
| 4.6 本章小结 | 第68-70页 |
| 第5章 PMN-PT力电耦合变温纳米压痕测试试验研究 | 第70-88页 |
| 5.1 试验前准备 | 第70-71页 |
| 5.1.1 外接电学仪器的集成 | 第70-71页 |
| 5.1.2 试件准备 | 第71页 |
| 5.2 PMN-PT的室温电场压痕测试 | 第71-79页 |
| 5.2.1 试验流程 | 第71-74页 |
| 5.2.2 PMN-PT室温电场压痕测试 | 第74-76页 |
| 5.2.3 电场对PMN-PT压痕曲线及力学参数的影响分析 | 第76-79页 |
| 5.3 PMN-PT的低温纳米压痕测试 | 第79-82页 |
| 5.4 PMN-PT的低温电场压痕测试 | 第82-86页 |
| 5.5 本章小结 | 第86-88页 |
| 第6章 总结与展望 | 第88-90页 |
| 6.1 总结 | 第88-89页 |
| 6.2 展望 | 第89-90页 |
| 参考文献 | 第90-98页 |
| 作者简介及在校期间的科研成果 | 第98-100页 |
| 一、作者简介 | 第98页 |
| 二、科研成果 | 第98-100页 |
| 致谢 | 第100页 |