摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第10-17页 |
1.1 简介 | 第10-11页 |
1.1.1 压敏电阻陶瓷 | 第10页 |
1.1.2 氧化锌电阻陶瓷 | 第10页 |
1.1.3 高梯度氧化锌电阻片 | 第10-11页 |
1.2 高梯度氧化锌电阻片研究背景 | 第11-12页 |
1.3 高梯度氧化锌电阻片国内外研究现状和发展态势 | 第12-14页 |
1.4 高梯度氧化锌电阻片研究意义及市场应用 | 第14-16页 |
1.5 本论文研究内容 | 第16-17页 |
第二章 高梯度氧化锌电阻片的理论基础 | 第17-22页 |
2.1 氧化锌压敏陶瓷的微观结构 | 第17页 |
2.2 氧化锌的晶体结构 | 第17-18页 |
2.3 氧化锌的能带结构 | 第18-19页 |
2.4 氧化锌压敏陶瓷的导电机理 | 第19-20页 |
2.5 高梯度氧化锌电阻片的工作原理 | 第20-21页 |
2.6 高梯度氧化锌电阻片的研制难点 | 第21-22页 |
第三章 成型工艺对高梯度电阻片性能的影响研究 | 第22-37页 |
3.1 试验样品制备 | 第22-23页 |
3.1.1 试验原料 | 第22页 |
3.1.2 试验配方 | 第22页 |
3.1.3 球磨 | 第22-23页 |
3.1.4 手工造粒 | 第23页 |
3.2 成型试验设备选择 | 第23-28页 |
3.3 成型工艺 | 第28-30页 |
3.4 涂高阻层 | 第30页 |
3.5 排胶 | 第30-31页 |
3.6 传统工艺烧成 | 第31页 |
3.7 热处理 | 第31-32页 |
3.8 电极 | 第32页 |
3.9 电气性能测试 | 第32-34页 |
3.10 成型工艺试验小结 | 第34-37页 |
3.10.1 成型模具对高梯度氧化锌电阻片的影响 | 第34页 |
3.10.2 晶粒分布对电位梯度和能量吸收能力的影响 | 第34-36页 |
3.10.3 排气次数对泄漏电流和大电流冲击耐受的影响 | 第36页 |
3.10.4 成型试验工艺的确定 | 第36-37页 |
第四章 烧成工艺对高梯度电阻片性能的影响研究 | 第37-46页 |
4.0 烧成试验特性 | 第37页 |
4.1 样品来源 | 第37-38页 |
4.2 预烧 | 第38页 |
4.3 烧成试验气氛 | 第38-39页 |
4.4 烧成工艺的研究 | 第39-42页 |
4.5 电气性能测试 | 第42-43页 |
4.6 烧成工艺小结 | 第43-46页 |
4.6.1 预烧对高梯度氧化锌电阻片的影响 | 第43页 |
4.6.2 烧成最高温度对高梯度氧化锌电阻片微观结构的影响 | 第43-45页 |
4.6.3 烧成制度对高梯度氧化锌电阻片电气性能的影响 | 第45-46页 |
第五章 结论与展望 | 第46-48页 |
5.1 结论 | 第46页 |
5.2 展望 | 第46-48页 |
致谢 | 第48-49页 |
参考文献 | 第49-51页 |
附录 作者攻读工程硕士期间取得的成果 | 第51-52页 |