适用于SoC的高性能低压差线性稳压器设计
摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第10-18页 |
1.1 低压差线性稳压器的国内外进展情况 | 第11-12页 |
1.2 LDO的研究现状 | 第12-16页 |
1.2.1 无片外负载电容LDO芯片 | 第12-15页 |
1.2.2 高电源噪声抑制比LDO芯片 | 第15-16页 |
1.3 论文主要工作及结构安排 | 第16-18页 |
第二章 LDO基本工作原理及关键参数 | 第18-32页 |
2.1 LDO的工作原理 | 第19-20页 |
2.2 LDO的主要性能指标 | 第20-31页 |
2.2.1 Dropout电压 | 第20-21页 |
2.2.2 静态电流 | 第21-22页 |
2.2.3 效率 | 第22页 |
2.2.4 线性调整率 | 第22-23页 |
2.2.5 负载调整率 | 第23-24页 |
2.2.6 负载瞬态响应 | 第24-26页 |
2.2.7 电源抑制比PSRR | 第26-28页 |
2.2.8 精度 | 第28-29页 |
2.2.9 传统LDO环路稳定性 | 第29-31页 |
2.3 小结 | 第31-32页 |
第三章 高PSRR LDO的设计 | 第32-45页 |
3.1 电路架构和工作原理 | 第32-34页 |
3.2 电路要点分析和具体实现 | 第34-35页 |
3.3 电路稳定性分析 | 第35-37页 |
3.4 电路的仿真与分析 | 第37-42页 |
3.4.1 直流特性仿真与分析 | 第37-39页 |
3.4.2 交流特性仿真与分析 | 第39-41页 |
3.4.3 瞬态特性仿真与分析 | 第41-42页 |
3.5 版图与芯片测试 | 第42-44页 |
3.6 小节 | 第44-45页 |
第四章 带有摆率增强电路的快速瞬态响应LDO | 第45-57页 |
4.1 电路架构和工作原理 | 第45-47页 |
4.2 电路要点分析和具体实现 | 第47-49页 |
4.3 电路稳定性分析 | 第49-51页 |
4.4 电路的仿真与分析 | 第51-55页 |
4.4.1 直流特性仿真与分析 | 第51-52页 |
4.4.2 交流特性仿真与分析 | 第52-54页 |
4.4.3 瞬态特性仿真与分析 | 第54-55页 |
4.5 小节 | 第55-57页 |
第五章 具有高摆率的快速负载瞬态响应LDO | 第57-66页 |
5.1 电路架构和工作原理 | 第57-59页 |
5.2 电路要点分析和具体实现 | 第59-60页 |
5.3 电路稳定性分析 | 第60页 |
5.4 电路的仿真与分析 | 第60-65页 |
5.4.1 直流特性仿真与分析 | 第61-62页 |
5.4.2 交流特性仿真与分析 | 第62-63页 |
5.4.3 瞬态特性仿真与分析 | 第63-65页 |
5.5 小节 | 第65-66页 |
第六章 结论与展望 | 第66-67页 |
致谢 | 第67-68页 |
参考文献 | 第68-71页 |
攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第71-72页 |