摘要 | 第3-4页 |
Abstract | 第4-5页 |
目录 | 第6-9页 |
第一章 引言 | 第9-11页 |
1.1 X 射线衍射技术 | 第9页 |
1.2 国内变温 X 射线衍射技术研究现状 | 第9-10页 |
1.3 样品选择—钛酸钡基陶瓷 | 第10页 |
1.4 课题研究内容 | 第10-11页 |
第二章 实验 | 第11-14页 |
2.1 实验仪器 | 第11-12页 |
2.2 实验原料 | 第12页 |
2.3 样品制备过程 | 第12-13页 |
2.3.1 陶瓷样品制备过程 | 第12页 |
2.3.2 锡铅焊料制备过程 | 第12-13页 |
2.4 物性检测 | 第13-14页 |
2.4.1 XRD 测试 | 第13页 |
2.4.2 介电测试 | 第13页 |
2.4.3 SEM 测试 | 第13页 |
2.4.4 Raman 测试 | 第13页 |
2.4.5 DSC 测试 | 第13页 |
2.4.6 EPR 测试 | 第13-14页 |
第三章 国产 X 射线衍射仪对室温以上陶瓷粉末 XRD 温度校正 | 第14-19页 |
3.1 研究背景 | 第14页 |
3.2 实验过程 | 第14页 |
3.3 结果与讨论 | 第14-18页 |
3.3.1 确定 BaTiO_3的热弛豫 | 第14-16页 |
3.3.2 BaTiO_3在 TC的温度校正 | 第16-18页 |
3.4 结论 | 第18-19页 |
第四章 国产 XRD 仪对陶瓷粉末低温测试的温度准确性验证 | 第19-26页 |
4.1 研究背景 | 第19页 |
4.2 实验过程 | 第19-20页 |
4.3 样品开发 | 第20-23页 |
4.3.1 室温 XRD 测试 | 第20页 |
4.3.2 室温 RS 测试 | 第20-21页 |
4.3.3 变温 RS 测试 | 第21-22页 |
4.3.4 介电测试 | 第22-23页 |
4.4 低于室温的 XRD 温度校正 | 第23-25页 |
4.4.1 高于室温时 BL9T 的晶体结构 | 第23-24页 |
4.4.2 室温以下 BL9T 的晶体结构 | 第24-25页 |
4.5 结论 | 第25-26页 |
第五章 变温 XRD 技术对高介电(Ba,La)(Ti,Ce)_3陶瓷变温结构研究的应用 | 第26-31页 |
5.1 研究背景 | 第26页 |
5.2 实验过程 | 第26-27页 |
5.3 结果与讨论 | 第27-30页 |
5.3.1 结果 | 第27-29页 |
5.3.2 讨论 | 第29-30页 |
5.4 结论 | 第30-31页 |
第六章 六方 Ba(Ti_(0.95)Fe_(0.05))O_(3-δ)陶瓷的变温结构研究 | 第31-34页 |
6.1 研究背景 | 第31页 |
6.2 实验过程 | 第31页 |
6.3 结果与讨论 | 第31-33页 |
6.3.1 XRD 测试 | 第31-32页 |
6.3.2 变温 XRD 测试 | 第32-33页 |
6.4 结论 | 第33-34页 |
第七章 Er 掺杂 BaTiO_3陶瓷的反常拉曼光谱及变温结构研究 | 第34-44页 |
7.1 研究背景 | 第34页 |
7.2 实验过程 | 第34页 |
7.3 结果 | 第34-39页 |
7.3.1 XRD 测试 | 第34-35页 |
7.3.2 RS 测试 | 第35-38页 |
7.3.3 EPR 测试 | 第38-39页 |
7.4 讨论 | 第39-43页 |
7.4.1 BET 样品的缺陷化学 | 第39-40页 |
7.4.2 反常拉曼光谱起源 | 第40-42页 |
7.4.3 大幅增加和反常的拉曼光谱的应用前景 | 第42-43页 |
7.5 结论 | 第43-44页 |
第八章 介电(Ba_(1-x)Er_x)(Ti_(1-x/2)Mg_(x/2))O_3陶瓷的开发及变温结构研究 | 第44-50页 |
8.1 研究背景 | 第44页 |
8.2 实验过程 | 第44-45页 |
8.3 结果与讨论 | 第45-49页 |
8.3.1 室温 XRD 测试 | 第45页 |
8.3.2 变温 XRD 测试 | 第45-47页 |
8.3.3 SEM 测试 | 第47页 |
8.3.4 RS 测试 | 第47-48页 |
8.3.5 介电测试 | 第48-49页 |
8.4 结论 | 第49-50页 |
第九章 金属的 XRD 的温度校正 | 第50-53页 |
9.1 研究背景 | 第50页 |
9.2 实验过程 | 第50-51页 |
9.3 结果讨论 | 第51-52页 |
9.3.1 焊料合金的室温 XRD 谱图 | 第51页 |
9.3.2 焊料合金的变温 XRD 及国产 XRD 仪的温度准确性验证 | 第51-52页 |
9.4 结论 | 第52-53页 |
结论 | 第53-54页 |
参考文献 | 第54-60页 |
致谢 | 第60-61页 |
在学期间公开发表论文及著作情况 | 第61页 |