超声相控阵检测系统图像处理和成像技术的研究
| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 无损检测简介 | 第8-10页 |
| 1.2 超声相控阵无损检测技术在国内外的发展现状 | 第10-11页 |
| 1.3 相控阵技术的特点及性质 | 第11-12页 |
| 1.4 超声成像及图像处理技术的意义 | 第12页 |
| 1.5 本课题的研究的内容 | 第12-14页 |
| 第二章 超声相控阵技术理论基础 | 第14-32页 |
| 2.1 超声场的特征值 | 第14-16页 |
| 2.1.1 声压 | 第14-15页 |
| 2.1.2 声场图 | 第15-16页 |
| 2.2 超声相控阵工作原理 | 第16-22页 |
| 2.2.1 波的干涉 | 第16页 |
| 2.2.2 惠更斯原理 | 第16-17页 |
| 2.2.3 相控阵探头 | 第17-18页 |
| 2.2.4 超声相控阵工作原理 | 第18页 |
| 2.2.5 波束的聚焦和偏转及仿真实现 | 第18-22页 |
| 2.3 超声相控阵近场区的声场特性 | 第22-23页 |
| 2.4 超声相控阵图像的形式 | 第23-26页 |
| 2.5 阵元数量选择 | 第26-31页 |
| 2.6 本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 超声图像噪声和伪缺陷的处理 | 第32-45页 |
| 3.1 超声图像噪声 | 第32-33页 |
| 3.2 图像滤波算法 | 第33-37页 |
| 3.2.1 均值滤波 | 第33-34页 |
| 3.2.2 高斯滤波 | 第34页 |
| 3.2.3 中值滤波 | 第34-35页 |
| 3.2.4 Lee 滤波 | 第35-36页 |
| 3.2.5 Kuan 滤波算法 | 第36页 |
| 3.2.6 Frost 滤波器 | 第36-37页 |
| 3.3 滤波算法对于噪声的去除 | 第37-38页 |
| 3.4 去斑算法评价 | 第38-40页 |
| 3.5 二次回波缺陷伪像的判断与去除 | 第40-42页 |
| 3.6 界面波伪缺陷的消除 | 第42-44页 |
| 3.7 本章小结 | 第44-45页 |
| 第四章 合成孔径成像在超声相控阵系统中的应用 | 第45-64页 |
| 4.1 常规超声成像出现误差的原因 | 第45-47页 |
| 4.2 合成孔径的基本知识 | 第47-49页 |
| 4.2.1 合成孔径成像原理 | 第47页 |
| 4.2.2 合成孔径成像的种类 | 第47-49页 |
| 4.3 成像实验的设计 | 第49-53页 |
| 4.4 实验结果及评定 | 第53-63页 |
| 4.4.1 缺陷评定方法 | 第53-54页 |
| 4.4.2 实验与数据提取 | 第54页 |
| 4.4.3 实验结果及分析 | 第54-55页 |
| 4.4.4 缺陷图像误差的产生 | 第55-57页 |
| 4.4.5 缺陷误差产生原因的验证 | 第57-60页 |
| 4.4.6 实验数据处理 | 第60-63页 |
| 4.5 本章小结 | 第63-64页 |
| 第五章 总结与展望 | 第64-66页 |
| 5.1 总结 | 第64-65页 |
| 5.2 展望 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-69页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70页 |
