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磁头飞行高度调节器的寿命及其失效机理研究

摘要第4-5页
Abstract第5-6页
第1章 绪论第9-19页
    1.1 课题研究背景、目的及意义第9-11页
    1.2 相关领域研究现状第11-18页
        1.2.1 电迁移基本原理第11-13页
        1.2.2 电迁移的特性第13-15页
        1.2.3 电流的聚集效应第15-16页
        1.2.4 典型的电迁移现象研究第16-17页
        1.2.5 电迁移研究展望第17-18页
    1.3 本课题研究的主要内容第18-19页
第2章 实验方法第19-24页
    2.1 实验材料第19-20页
    2.2 实验过程第20-23页
        2.2.1 加速应力实验设计第20-21页
        2.2.2 直流加速应力实验试样的制备第21页
        2.2.3 交流加速应力实验试样的制备第21-22页
        2.2.4 光学显微镜分析第22页
        2.2.5 扫描电子显微镜分析第22页
        2.2.6 聚焦离子束技术分析第22页
        2.2.7 透射电子显微镜分析第22-23页
    2.3 电迁移的寿命预测第23-24页
第3章 Ta/W/Ta DFH 加速应力实验第24-48页
    3.1 Ta/W/Ta DFH 直流加速应力实验第24-44页
        3.1.1 电阻变化曲线第24-25页
        3.1.2 失效特征第25-27页
        3.1.3 失效区域的分析第27-44页
    3.2 Ta/W/Ta DFH 交流加速应力实验第44-46页
        3.2.1 电阻变化曲线第44-45页
        3.2.2 失效特征及其分析第45-46页
    3.3 本章小结第46-48页
第4章 Ta/NiCu/Ta DFH 加速应力实验第48-66页
    4.1 Ta/NiCu/Ta DFH 直流加速应力实验第48-57页
        4.1.1 电阻变化曲线第48-49页
        4.1.2 失效特征第49-51页
        4.1.3 失效区域的分析第51-57页
    4.2 Ta/NiCu/Ta DFH 交流加速应力实验第57-60页
        4.2.1 电阻变化曲线第57-58页
        4.2.2 失效特征及其分析第58-60页
    4.3 DFH 寿命分析第60-64页
        4.3.1 Ta/NiCu/Ta DFH 寿命分析第60-61页
        4.3.2 加速寿命测试方法第61页
        4.3.3 加速寿命测试方法的简化推导第61页
        4.3.4 电流密度的计算第61-62页
        4.3.5 DFH 加速寿命结果第62-64页
    4.4 本章小结第64-66页
结论第66-67页
参考文献第67-72页
致谢第72页

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