X射线能谱测量与模拟
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 X射线简介 | 第9-11页 |
| 1.2 X射线光机 | 第11-12页 |
| 1.3 研究背景 | 第12-13页 |
| 1.4 论文概述 | 第13-14页 |
| 1.5 课题依托 | 第14-15页 |
| 第2章 光子与物质的相互作用 | 第15-19页 |
| 2.1 光电效应 | 第15-16页 |
| 2.2 康普顿效应 | 第16-17页 |
| 2.3 电子对效应 | 第17-18页 |
| 2.4 本章小结 | 第18-19页 |
| 第3章 X射线能谱测量探测器 | 第19-27页 |
| 3.1 X射线探测器 | 第19-21页 |
| 3.1.1 高纯锗探测器(HPGe) | 第19-20页 |
| 3.1.2 碲化镉探测器(CdTe) | 第20-21页 |
| 3.2 能量刻度 | 第21-26页 |
| 3.2.1 放射性核素衰变规律 | 第21-22页 |
| 3.2.2 标准点源 | 第22-23页 |
| 3.2.3 能量刻度 | 第23-26页 |
| 3.3 本章小结 | 第26-27页 |
| 第4章 建立蒙特卡洛模型 | 第27-39页 |
| 4.1 常见的蒙特卡洛模拟软件 | 第27-28页 |
| 4.1.1 EGS蒙特卡洛模拟软件 | 第27-28页 |
| 4.1.2 MCNP蒙特卡洛模拟软件 | 第28页 |
| 4.2 工业CT扫描标准探测器 | 第28-33页 |
| 4.2.1 工业CT介绍 | 第28-29页 |
| 4.2.2 扫描标准探测器 | 第29-33页 |
| 4.3 建立标准探测器模型 | 第33-34页 |
| 4.4 计算标准探测器模型的本征探测效率 | 第34-35页 |
| 4.5 探测效率实验刻度 | 第35-38页 |
| 4.6 实验与模拟结果比较 | 第38页 |
| 4.7 本章小结 | 第38-39页 |
| 第5章 测量脉冲高度谱 | 第39-49页 |
| 5.1 测量装置 | 第39-41页 |
| 5.1.1 屏蔽准直器 | 第39-40页 |
| 5.1.2 多道分析器和能谱分析软件 | 第40-41页 |
| 5.1.3 构建能谱测量系统 | 第41页 |
| 5.2 测量脉冲高度谱 | 第41-48页 |
| 5.2.1 钨靶中能治疗水平脉冲高度谱 | 第42-45页 |
| 5.2.2 钨靶重过滤脉冲高度谱 | 第45-48页 |
| 5.3 本章小结 | 第48-49页 |
| 第6章 钼靶能谱测量与模拟 | 第49-59页 |
| 6.1 钼靶能谱测量 | 第49-53页 |
| 6.2 钼靶能谱模拟 | 第53-58页 |
| 6.3 本章小结 | 第58-59页 |
| 第7章 不确定度评估 | 第59-65页 |
| 7.1 刻度标准探测器不确定度评估 | 第59-63页 |
| 7.2 蒙特卡洛模拟计算不确定度评估 | 第63页 |
| 7.3 本章小结 | 第63-65页 |
| 结论 | 第65-67页 |
| 附录 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-73页 |
| 攻读硕七学位期间所获得的学术成果 | 第73页 |
| 攻读硕士学位期间所获得的专利 | 第73-75页 |
| 致谢 | 第75页 |
