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具有温度相关性的薄膜晶体管电流模型研究

中文摘要第4-5页
abstract第5页
第一章 绪论第8-26页
    1.1 薄膜晶体管介绍第9-10页
    1.2 薄膜晶体管电流模型研究进展第10-15页
    1.3 Meyer-Neldel Rule介绍第15-16页
    1.4 本文器件结构及制备工艺第16-20页
    1.5 本文主要工作第20-22页
    参考文献第22-26页
第二章 薄膜晶体管IV模型第26-41页
    2.1 薄膜晶体管IV模型建立第26-33页
        2.1.1 Pao-Sah模型简介第26-28页
        2.1.2 非均匀半导体材料中的缺陷态分布第28-29页
        2.1.3 薄膜晶体管IV模型建立第29-33页
    2.2 薄膜晶体管IV模型验证第33-37页
    2.3 本章小结第37-39页
    参考文献第39-41页
第三章 薄膜晶体管的MNR研究第41-60页
    3.1 亚阈值区电流遵循MNR第41-43页
    3.2 MNR形式的亚阈值电流表达式推导第43-47页
    3.3 MNR现象解释第47-57页
        3.3.1 激活能Ea理论与实验值对比第49-50页
        3.3.2 MN能量EMN理论与实验值对比第50页
        3.3.3 I_(d0)指数前因子I_(d00)理论与实验值对比第50-51页
        3.3.4 MNR物理根源第51-57页
    3.4 本章小结第57-58页
    参考文献第58-60页
第四章 薄膜晶体管输出特性研究第60-65页
    4.1 薄膜晶体管输出特性研究第60-62页
    4.2 未来工作第62-64页
    参考文献第64-65页
攻读硕士学位期间发表的论文第65-66页
致谢第66-67页

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