| 1 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 磁集成技术简介及其发展概况 | 第8-10页 |
| 1.2 平面化技术简介 | 第10-12页 |
| 1.3 平面磁集成技术 | 第12页 |
| 1.4 本文的选题意义和研究内容 | 第12-13页 |
| 1.5 本章小结 | 第13-14页 |
| 2 磁件分析方法 | 第14-24页 |
| 2.1 磁件等效电路的建立 | 第14-17页 |
| 2.1.1 磁路-电路对偶变换法 | 第14-16页 |
| 2.1.2 源转移等效变换法 | 第16-17页 |
| 2.2 两类磁集成技术简介 | 第17-22页 |
| 2.2.1 不改变磁芯结构的磁件集成 | 第17-22页 |
| 2.2.2 改变磁芯结构的磁件集成 | 第22页 |
| 2.3 本章小结 | 第22-24页 |
| 3 阵列式平面集成磁件磁集成原理及应用 | 第24-39页 |
| 3.1 APIM提出的理论基础 | 第24-25页 |
| 3.2 电感+电感的APIM(APIM-L+L) | 第25-30页 |
| 3.2.1 APIM-L+L的结构、等效电路及磁集成原理 | 第25-26页 |
| 3.2.2 APIM-L+L等效电路 | 第26-29页 |
| 3.2.3 在APIM-L+L上再集成电感1与1 | 第29-30页 |
| 3.3 电感+变压器的APIM(APIM-L+T) | 第30-35页 |
| 3.3.1 矩阵变压器的原理 | 第30-32页 |
| 3.3.2 APIM-L+T的集成原理及其等效电路 | 第32-33页 |
| 3.3.3 在APIM-L+T上再集成电感1 | 第33-35页 |
| 3.4 APIM集成原理的仿真及实验 | 第35-36页 |
| 3.5 APIM的应用 | 第36-38页 |
| 3.6 本章小结 | 第38-39页 |
| 4 APIM绕组损耗分析 | 第39-47页 |
| 4.1 平面电感器的损耗分析 | 第39-43页 |
| 4.1.1 绕组导体宽度对绕组损耗的影响 | 第39-40页 |
| 4.1.2 气隙大小对绕组损耗的影响 | 第40-41页 |
| 4.1.3 绕组导体厚度对绕组损耗的影响 | 第41-43页 |
| 4.2 平面变压器的损耗分析 | 第43-46页 |
| 4.2.1 绕组导体宽度及间隙对绕组损耗的影响 | 第43-45页 |
| 4.2.2 磁芯气隙对绕组损耗的影响 | 第45页 |
| 4.2.3 绕组导体厚度对绕组损耗的影响 | 第45页 |
| 4.2.4 漏感与导体间隙关系 | 第45-46页 |
| 4.3 本章小结 | 第46-47页 |
| 5 APIM平面化的实现及其设计 | 第47-64页 |
| 5.1 APIM平面化的实现 | 第47页 |
| 5.2 平面变压器的设计 | 第47-54页 |
| 5.2.1 平面变压器设计的基本步骤 | 第48-54页 |
| 5.3 平面电感器的设计 | 第54-58页 |
| 5.3.1 平面电感器的设计步骤 | 第54-58页 |
| 5.4 APIM实例设计 | 第58-63页 |
| 5.4.1 采用现有的UI或UF型磁芯设计 | 第58-61页 |
| 5.4.2 采用平面型EI或EE型磁芯的切割方式作为参数设计 | 第61-63页 |
| 5.4.3 两种设计方案的比较 | 第63页 |
| 5.5 本章小结 | 第63-64页 |
| 结束语 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-67页 |
