| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-16页 |
| 1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状及分析 | 第10-14页 |
| 1.2.1 边缘检测技术 | 第10-11页 |
| 1.2.2 直线检测技术 | 第11-12页 |
| 1.2.3 圆检测技术 | 第12-14页 |
| 1.3 课题的主要研究内容及论文结构 | 第14-16页 |
| 第2章 高分辨CCD图像预处理 | 第16-29页 |
| 2.1 引言 | 第16页 |
| 2.2 高分辨CCD图像去噪 | 第16-20页 |
| 2.2.1 频率域低通滤波 | 第16-17页 |
| 2.2.2 均值滤波 | 第17页 |
| 2.2.3 数学形态学滤波 | 第17-19页 |
| 2.2.4 图像去噪实验结果及分析 | 第19-20页 |
| 2.3 高分辨CCD图像分割 | 第20-28页 |
| 2.3.1 灰度闽值法 | 第21-24页 |
| 2.3.2 边缘提取 | 第24-26页 |
| 2.3.3 图像分割实验结果及分析 | 第26-28页 |
| 2.4 本章小结 | 第28-29页 |
| 第3章 基于HOUGH变换的几何参数测量 | 第29-41页 |
| 3.1 引言 | 第29页 |
| 3.2 基于传统HOUGH变换的直线和圆检测 | 第29-32页 |
| 3.2.1 基于传统Hough变换的直线检测 | 第29-31页 |
| 3.2.2 基于传统Hough变换的圆检测 | 第31-32页 |
| 3.3 基于改进的随机HOUGH变换的圆检测 | 第32-38页 |
| 3.4 基于HOUGH变换的高分辨率CCD图像几何参数检测 | 第38-40页 |
| 3.4.1 二维CCD图像的几何参数检测 | 第39页 |
| 3.4.2 三维CCD图像轮廓的几何参数检测 | 第39-40页 |
| 3.5 本章小结 | 第40-41页 |
| 第4章 航天工业零件的几何参数测量 | 第41-58页 |
| 4.1 引言 | 第41页 |
| 4.2 高分辨CCD图像检测系统 | 第41-43页 |
| 4.3 实验数据及标定处理 | 第43-49页 |
| 4.3.1 实验数据介绍 | 第43-47页 |
| 4.3.2 标定处理 | 第47-49页 |
| 4.4 基于二维图像的实验结果及分析 | 第49-53页 |
| 4.5 基于三维图像轮廓的实验结果及分析 | 第53-56页 |
| 4.6 精度分析 | 第56-57页 |
| 4.7 本章小结 | 第57-58页 |
| 结论 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 个人简历 | 第65页 |