2b/cycle高速逐次逼近型模数转换器设计研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 引言 | 第7-12页 |
| 1.1 研究背景 | 第7-10页 |
| 1.2 论文的研究目标与组织结构 | 第10-12页 |
| 第二章 逐次逼近型模数转换器概述 | 第12-20页 |
| 2.1 模数转换器参数定义 | 第12-16页 |
| 2.2 逐次逼近型模数转换器的原理和结构 | 第16-19页 |
| 2.3 逐次逼近型模数转换器的优势与局限 | 第19页 |
| 2.4 本章小结 | 第19-20页 |
| 第三章 系统架构理论分析 | 第20-30页 |
| 3.1 系统架构的提出 | 第20-23页 |
| 3.2 非理想因素的分析与讨论 | 第23-29页 |
| 3.3 本章小结 | 第29-30页 |
| 第四章 电路分析与设计 | 第30-52页 |
| 4.0 采样开关的分析与设计 | 第30-34页 |
| 4.1 M-DAC电容阵列的分析与设计 | 第34-38页 |
| 4.2 AUX-DAC电容阵列的分析与设计 | 第38-41页 |
| 4.3 内插预放大电路分析与设计 | 第41-43页 |
| 4.4 带失调校正的动态比较器的分析与设计 | 第43-48页 |
| 4.5 占空比可调的采样时钟设计 | 第48-50页 |
| 4.6 系统整体仿真 | 第50-51页 |
| 4.7 本章小结 | 第51-52页 |
| 第五章 版图设计与后仿验证 | 第52-59页 |
| 5.1 电容阵列的版图设计 | 第52-54页 |
| 5.2 交替工作模式比较器阵列版图 | 第54-56页 |
| 5.3 芯片系统整体版图及后仿结果 | 第56-58页 |
| 5.4 本章小结 | 第58-59页 |
| 第六章 芯片测试 | 第59-67页 |
| 6.1 测试系统与方法 | 第59-60页 |
| 6.2 测试仪器选择 | 第60页 |
| 6.3 印刷电路板设计 | 第60-61页 |
| 6.4 ADC测试结果 | 第61-64页 |
| 6.5 测试结果分析 | 第64-66页 |
| 6.6 本章小结 | 第66-67页 |
| 第七章 总结与展望 | 第67-69页 |
| 7.1 总结 | 第67-68页 |
| 7.2 展望 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 个人发表论文目录 | 第73-74页 |
