| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-25页 |
| 1.1 课题来源及研究的背景和意义 | 第9-10页 |
| 1.2 表面增强拉曼光谱（SERS） | 第10-12页 |
| 1.2.1 SERS概述 | 第10-11页 |
| 1.2.2 SERS机理 | 第11-12页 |
| 1.3 SERS基底材料 | 第12-19页 |
| 1.3.1 金属材料 | 第13-14页 |
| 1.3.2 半导体材料 | 第14-16页 |
| 1.3.3 金属与导电聚合物复合材料 | 第16-18页 |
| 1.3.4 石墨烯材料 | 第18-19页 |
| 1.4 疏水SERS基底 | 第19-24页 |
| 1.4.1 疏水表面的结构原理 | 第20页 |
| 1.4.2 疏水基底的研究现状 | 第20-24页 |
| 1.5 主要研究内容 | 第24-25页 |
| 第2章 实验材料及实验方法 | 第25-31页 |
| 2.1 实验所用化学试剂和仪器 | 第25-26页 |
| 2.1.1 实验所用化学试剂 | 第25页 |
| 2.1.2 实验所用仪器 | 第25-26页 |
| 2.2 实验样品的制备 | 第26-28页 |
| 2.2.1 聚苯胺膜的制备 | 第26-27页 |
| 2.2.2 Ag聚苯胺膜的制备 | 第27页 |
| 2.2.3 疏水Ag膜的制备及表征 | 第27页 |
| 2.2.4 疏水氧化石墨烯基底的制备 | 第27-28页 |
| 2.2.5 疏水基底的拉曼测试 | 第28页 |
| 2.3 材料的表征 | 第28-31页 |
| 2.3.1 扫描电子显微镜测试 | 第28-29页 |
| 2.3.2 X射线衍射分析测试 | 第29页 |
| 2.3.3 红外光谱测试 | 第29-30页 |
| 2.3.4 接触角仪测试 | 第30页 |
| 2.3.5 拉曼光谱测试 | 第30-31页 |
| 第3章 疏水Ag SERS基底制备与性能研究 | 第31-47页 |
| 3.1 引言 | 第31页 |
| 3.2 疏水Ag基底的结构及表面性质表征 | 第31-37页 |
| 3.2.1 Ag聚苯胺膜的制备及SEM观察 | 第31-32页 |
| 3.2.2 疏水Ag基底的制备及SEM观察 | 第32-34页 |
| 3.2.3 疏水Ag基底的XRD分析 | 第34-35页 |
| 3.2.4 疏水Ag基底表面接触角的测试分析 | 第35-37页 |
| 3.3 疏水Ag基底的SERS性能研究 | 第37-45页 |
| 3.3.1 不同浸泡时间对SERS测试的影响 | 第38-40页 |
| 3.3.2 改性试剂疏水链长对SERS性能的影响 | 第40-41页 |
| 3.3.3 疏水Ag基底对于罗丹明B分子检测限的测试 | 第41-42页 |
| 3.3.4 疏水Ag基底对于秋兰姆分子的Raman光谱信号的测试 | 第42-45页 |
| 3.4 本章小结 | 第45-47页 |
| 第4章 疏水氧化石墨烯SERS基底制备与性能研究 | 第47-59页 |
| 4.1 引言 | 第47-48页 |
| 4.2 疏水GO基底的结构和表面性质的表征 | 第48-53页 |
| 4.2.1 疏水GO基底的制备和SEM表征 | 第48页 |
| 4.2.2 疏水GO材料的IR分析 | 第48-50页 |
| 4.2.3 疏水GO材料的XRD分析 | 第50-52页 |
| 4.2.4 疏水GO基底表面接触角测试分析 | 第52-53页 |
| 4.3 疏水GO基底的SERS性能研究 | 第53-57页 |
| 4.3.1 不同物质的量正辛胺的基底在SERS上的表现 | 第55-56页 |
| 4.3.2 改性试剂疏水链长对SERS性能的影响 | 第56-57页 |
| 4.3.3 疏水GO基底对于罗丹明B分子的检测限测试 | 第57页 |
| 4.4 本章小结 | 第57-59页 |
| 结论 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-68页 |
| 致谢 | 第68页 |
