| 摘要 | 第6-8页 |
| Abstract | 第8-9页 |
| 第1章 绪论 | 第17-28页 |
| 1.1 散射 | 第17页 |
| 1.2 拉曼光谱简介 | 第17-18页 |
| 1.3 SERS简介 | 第18-19页 |
| 1.4 SERS增强机理 | 第19-21页 |
| 1.4.1 物理增强 | 第20-21页 |
| 1.4.2 化学增强 | 第21页 |
| 1.5 SERS活性基底分类 | 第21-23页 |
| 1.5.1 金属基底 | 第21-22页 |
| 1.5.2 非金属SERS基底 | 第22-23页 |
| 1.5.2.1 过渡金属基底的研究 | 第22页 |
| 1.5.2.2 半导体纳米材料的发展 | 第22-23页 |
| 1.5.2.3 新型材料 | 第23页 |
| 1.6 SERS基底的制作 | 第23-25页 |
| 1.6.1 金属溶胶法 | 第23-24页 |
| 1.6.2 金属岛膜法 | 第24页 |
| 1.6.3 化学刻蚀法 | 第24页 |
| 1.6.4 电化学氧化还原法 | 第24-25页 |
| 1.6.5 平板印刷及有序组装法 | 第25页 |
| 1.7 SERS应用 | 第25页 |
| 1.8 多巴胺 | 第25-26页 |
| 1.9 本课题研究内容 | 第26-28页 |
| 第2章实验药品及仪器 | 第28-32页 |
| 2.1 实验仪器 | 第28-29页 |
| 2.2 实验药品 | 第29页 |
| 2.3 表征方法 | 第29-32页 |
| 2.3.1 偏光显微镜分析 | 第29页 |
| 2.3.2 扫描电子显微镜（SEM）分析 | 第29-30页 |
| 2.3.3 激光共聚焦拉曼光谱仪分析 | 第30页 |
| 2.3.4 X射线衍射仪（XRD）分析 | 第30页 |
| 2.3.5 透射电子显微镜（TEM）分析 | 第30-31页 |
| 2.3.6 原子力显微镜（AFM）分析 | 第31-32页 |
| 第3章 Si/PDA/AgNPs基底的制备探究与表征 | 第32-48页 |
| 3.1 引言 | 第32页 |
| 3.2 实验部分 | 第32-33页 |
| 3.2.1 单晶Si片的羟基化及清洗 | 第32-33页 |
| 3.2.2 Si/PDA膜基底层的制作 | 第33页 |
| 3.2.3 Si/PDA膜基底层的优化 | 第33页 |
| 3.2.4 Si/PDA/AgNPs基底的制作 | 第33页 |
| 3.3 仪器与表征方法 | 第33-35页 |
| 3.3.1 偏光显微镜分析 | 第33-34页 |
| 3.3.2 扫描电子显微镜（SEM）分析 | 第34页 |
| 3.3.3 原子力显微镜（AFM）分析 | 第34页 |
| 3.3.4 X射线衍射仪（XRD）分析 | 第34页 |
| 3.3.5 激光共聚焦拉曼光谱仪分析 | 第34-35页 |
| 3.4 结果与讨论 | 第35-46页 |
| 3.4.1 基底形貌分析 | 第35-40页 |
| 3.4.2 基底粒径分析 | 第40-41页 |
| 3.4.3 基底XRD分析 | 第41-42页 |
| 3.4.4 基底Raman mapping图 | 第42-43页 |
| 3.4.5 多点拉曼扫描的基底均匀性 | 第43-45页 |
| 3.4.6 不同浓度的R6G溶液在基底上的拉曼检测结果 | 第45-46页 |
| 3.5 基底增强因子（EF）值的计算 | 第46-47页 |
| 3.6 本章小结 | 第47-48页 |
| 第4章 PDA/AgNPs/PDA“三明治”结构基底的制备 | 第48-59页 |
| 4.1 前言 | 第48页 |
| 4.2 实验部分 | 第48-49页 |
| 4.2.1 Si/PDA膜基底层的制作 | 第49页 |
| 4.2.2 Si/PDA/AgNPs基底的制作 | 第49页 |
| 4.2.3 Si/PDA/AgNPs/ PDA | 第49页 |
| 4.3 表征分析方法 | 第49-50页 |
| 4.3.1 原子力显微镜（AFM）分析 | 第49页 |
| 4.3.2 扫描电子显微镜（SEM）分析 | 第49页 |
| 4.3.3 X射线衍射（XRD）分析 | 第49-50页 |
| 4.3.4 拉曼光谱分析 | 第50页 |
| 4.4 结果与讨论 | 第50-57页 |
| 4.4.1 原子力显微镜（AFM）分析 | 第50-51页 |
| 4.4.2 激光共聚焦拉曼光谱分析 | 第51-52页 |
| 4.4.3 扫描电子显微镜形貌分析 | 第52-54页 |
| 4.4.4 透射电子显微镜（SEM）分析 | 第54页 |
| 4.4.5“三明治”结构SERS基底性能保持性分析 | 第54-57页 |
| 4.5 本章小结 | 第57-59页 |
| 第5章柔性SERS基底的制备 | 第59-68页 |
| 5.1 前言 | 第59页 |
| 5.2 实验部分 | 第59-60页 |
| 5.2.1 基底清洗 | 第59-60页 |
| 5.2.2 PET-PDA/聚酯纤维-PDA二级反应平台的制备 | 第60页 |
| 5.2.3 PET-PDA-AgNPs和聚酯纤维-PDA-AgNPs基底的制备 | 第60页 |
| 5.3 表征分析方法 | 第60-61页 |
| 5.3.1 光学图片分析 | 第60页 |
| 5.3.2 扫描电子显微镜（SEM）分析 | 第60页 |
| 5.3.3 X射线衍射（XRD）分析 | 第60-61页 |
| 5.3.4 拉曼光谱分析 | 第61页 |
| 5.4 结果与讨论 | 第61-66页 |
| 5.4.1 光学图片分析 | 第61-62页 |
| 5.4.2 扫描电子显微镜分析 | 第62-64页 |
| 5.4.3 X射线衍射分析 | 第64页 |
| 5.4.4 拉曼光谱分析 | 第64-66页 |
| 5.4.5 基底均匀性分析 | 第66页 |
| 5.5 本章小结 | 第66-68页 |
| 第6章两种简单核壳结构SERS基底 | 第68-84页 |
| 6.1 前言 | 第68页 |
| 6.2 实验部分 | 第68-70页 |
| 6.2.1 清洗 | 第68页 |
| 6.2.2 空白组对照 | 第68-69页 |
| 6.2.3 制作SiO2@PDA球 | 第69页 |
| 6.2.4 球的富集 | 第69页 |
| 6.2.5 形成银纳米膜 | 第69-70页 |
| 6.2.6 银纳米颗粒（AgNPs）的制备 | 第70页 |
| 6.2.7 银纳米颗粒@聚多巴胺（AgNPs@PDA）核壳结构的制备 | 第70页 |
| 6.3 表征与分析方法 | 第70-72页 |
| 6.3.1 偏光显微镜 | 第70-71页 |
| 6.3.2 扫描电子显微镜（SEM） | 第71页 |
| 6.3.3 拉曼光谱 | 第71页 |
| 6.3.4 X射线衍射分析（XRD） | 第71-72页 |
| 6.4 结果与讨论 | 第72-79页 |
| 6.4.1 抽滤与富集 | 第72-73页 |
| 6.4.2 偏光显微镜形貌分析 | 第73-74页 |
| 6.4.3 X射线衍射分析 | 第74-75页 |
| 6.4.4 扫描电镜形貌分析 | 第75-77页 |
| 6.4.5 Raman光谱分析 | 第77-79页 |
| 6.5 Ag @ PDA结果与讨论 | 第79-82页 |
| 6.5.1 扫描电镜分析 | 第79-80页 |
| 6.5.2 X射线衍射分析 | 第80页 |
| 6.5.3 Raman光谱分析 | 第80-82页 |
| 6.6 本章小结 | 第82-84页 |
| 结论 | 第84-86页 |
| 参考文献 | 第86-94页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第94-96页 |
| 致谢 | 第96页 |
