摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-8页 |
第一章 绪论 | 第8-13页 |
·VLSI 布图规划的目的意义及其重要性 | 第8-9页 |
·VLSI 布图规划的研究方法与目标 | 第9-10页 |
·研究背景 | 第10-11页 |
·本文研究内容及论文结构 | 第11-13页 |
第二章 S 序列的定义及应用 | 第13-21页 |
·S 序列定义的引入 | 第13-15页 |
·Slicing 结构与Non-Slicing 结构 | 第13-14页 |
·T 形交叉图及主边 | 第14页 |
·阿部顺序 | 第14-15页 |
·S 序列的定义 | 第15-18页 |
·ABLR 关系 | 第15-18页 |
·布图规划编码成S 序列 | 第18页 |
·S 序列解码成布图规划 | 第18-21页 |
第三章 基于S 序列的布图规划算法 | 第21-39页 |
·基于S 序列的布图规划的总体过程 | 第21-22页 |
·约束图及关键路径算法 | 第22-27页 |
·水平约束图和垂直约束图 | 第22-25页 |
·关键路径算法 | 第25-27页 |
·基于S 序列的局部变换 | 第27-31页 |
·交换S 序列的序列号 | 第27-29页 |
·模块成对交换 | 第29-30页 |
·模块的旋转 | 第30-31页 |
·模拟退火算法 | 第31-35页 |
·模拟退火算法简介 | 第31-32页 |
·布图规划问题的模拟退火算法 | 第32-33页 |
·模拟退火算法的模型 | 第33-35页 |
·模拟退火算法的参数控制问题 | 第35页 |
·基于S 序列布图规划的仿真结果 | 第35-39页 |
第四章 S 序列与布图规划的多对一现象及解决方法 | 第39-54页 |
·S 序列全列举分析 | 第39-43页 |
·S 序列全列举的方法 | 第39-40页 |
·S 序列可解性与还原性 | 第40-41页 |
·真伪S 序列的定义及判断算法 | 第41-42页 |
·全列举分析 | 第42-43页 |
·多对一现象产生的原因 | 第43-45页 |
·多对一现象举例 | 第43页 |
·多对一现象分析 | 第43-45页 |
·多对一现象解决方案 | 第45-49页 |
·伪S 序列转换为S 序列算法 | 第46-47页 |
·多对一现象解决算法及流程图 | 第47-49页 |
·多对一解决方法仿真结果与对比 | 第49-52页 |
·本章小结 | 第52-54页 |
第五章 基于权重的VLSI 平面布图规划的改进算法 | 第54-66页 |
·模块的自由度及其权重 | 第54-57页 |
·模块的自由度 | 第54-55页 |
·单模块的自由度与权重 | 第55-57页 |
·基于权重的布图规划算法思想 | 第57-60页 |
·基于权重的布图规划算法模型 | 第57-58页 |
·模拟退火过程中基于权重的退火策略 | 第58-59页 |
·模拟退火过程中基于权重的模块处理策略 | 第59-60页 |
·基于最大权重优先的布图规划算法步骤及流程图 | 第60-61页 |
·基于最大权重优先的布图规划算法仿真结果及对比 | 第61-64页 |
·本章小结 | 第64-66页 |
第六章 结论 | 第66-68页 |
致谢 | 第68-69页 |
参考文献 | 第69-72页 |
本人在攻读硕士研究生期间发表的论文 | 第72页 |