| 中文摘要 | 第6-8页 |
| Abstract | 第8-9页 |
| 1 前言 | 第10-17页 |
| 1.1 选题的目的和意义 | 第10-11页 |
| 1.2 文献综述 | 第11-17页 |
| 1.2.1 事件相关电位概述 | 第11-12页 |
| 1.2.2 面孔识别中事件相关电位N170的研究 | 第12-14页 |
| 1.2.3 面孔识别ERP的影响因素 | 第14-16页 |
| 1.2.4 技能主导类隔网对抗性项群与非隔网相关理论的研究 | 第16-17页 |
| 2 研究对象 | 第17页 |
| 3 研究方法 | 第17-22页 |
| 3.1 文献资料法 | 第17-18页 |
| 3.2 数理统计法 | 第18页 |
| 3.3 实验法 | 第18-22页 |
| 3.3.1 实验设计 | 第18页 |
| 3.3.2 实验仪器与材料 | 第18-19页 |
| 3.3.3 实验程序 | 第19-20页 |
| 3.3.4 实验记录 | 第20-21页 |
| 3.3.5 实验数据处理与分析 | 第21-22页 |
| 4 结果 | 第22-29页 |
| 4.1 两组受试者间行为学反应数据的比较 | 第22-23页 |
| 4.2 两组受试者间事件相关电位N170波幅和潜伏期的比较 | 第23-29页 |
| 4.2.1 平静面孔刺激下(S1)两组间事件相关电位N170波幅和潜伏期的比较 | 第23-24页 |
| 4.2.2 高兴面孔刺激下(S2)两组间事件相关电位N170波幅和潜伏期的比较 | 第24-26页 |
| 4.2.3 愤怒面孔刺激下(S3)两组间事件相关电位N170波幅和潜伏期的比较 | 第26-29页 |
| 5 讨论 | 第29-30页 |
| 6 结论与建议 | 第30-32页 |
| 6.1 结论 | 第30-31页 |
| 6.2 建议 | 第31-32页 |
| 7 参考文献 | 第32-35页 |
| 8 致谢 | 第35页 |
