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Flash IP核在DSP处理器中的嵌入式应用

摘要第4-5页
Abstract第5页
第1章 引言第8-11页
    1.1 课题研究背景第8页
    1.2 嵌入式FLASH存储器的发展现状第8-9页
    1.3 研究内容与论文结构第9-11页
第2章 FLASH存储器简介第11-17页
    2.1 非易失性存储器简介第11-12页
    2.2 NAND FLASH存储单元的工作原理第12-15页
        2.2.1 ETOX浮栅结构第12-13页
        2.2.2 电荷输运机制第13-15页
    2.3 本章小结第15-17页
第3章 FLASH IP核嵌入式系统与硬件接口设计第17-40页
    3.1 目标DSP简介第17-20页
        3.1.1 ADP16结构第17-18页
        3.1.2 总线结构第18-20页
    3.2 FLASH IP核简介第20-23页
        3.2.1 IP核的定义第20-21页
        3.2.2 GIP工作模式第21-22页
        3.2.3 GIP引脚描述第22-23页
    3.3 嵌入式FLASH存储器在DSP中的三种工作模式第23-25页
        3.3.1 FLASH存储器与DSP内部连接方式第23页
        3.3.2 嵌入式FLASH存储器在DSP中的三种工作模式第23-25页
    3.4 GIP2的结构第25-27页
    3.5 GIP2与ADP16的硬件接口设计第27-38页
        3.5.1 硬件接口电路中控制寄存器的基本结构及工作原理第27页
        3.5.2 GIP的控制时序第27-31页
        3.5.3 时序产生与控制电路的代码设计第31-38页
        3.5.4 硬件接口电路第38页
    3.6 本章小结第38-40页
第4章 FLASH应用程序接口设计第40-47页
    4.1 API描述和功能说明第40-41页
    4.2 API的主要内容第41-44页
    4.3 API的操作流程第44-46页
    4.4 本章小结第46-47页
第5章 仿真结果第47-53页
    5.1 仿真简介第47页
    5.2 上电复位仿真结果第47-48页
    5.3 CSM状态判断仿真结果第48页
    5.4 擦除操作仿真结果第48-52页
        5.4.1 擦除验证过程第49页
        5.4.2 编程写“0”过程第49-50页
        5.4.3 验证读过程第50页
        5.4.4 擦除/验证过程第50-51页
        5.4.5 擦除过程整体仿真结果图第51-52页
    5.5 本章小结第52-53页
第6章 总结与展望第53-55页
    6.1 工作总结第53页
    6.2 研究展望第53-55页
参考文献第55-59页
致谢第59-60页
附录A 个人简历第60-61页
附录B 在学期间发表的学术论文与研究成果第61-62页
附录C 论文中的用图第62-63页
附录D 论文中的用表第63页

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