摘要 | 第4-6页 |
Abstract | 第6-8页 |
第一章 绪论 | 第12-36页 |
1.1 引言 | 第12页 |
1.2 阻变效应简介 | 第12-19页 |
1.2.1 阻变效应的分类 | 第12-13页 |
1.2.2 阻变效应的模型与机制 | 第13-18页 |
1.2.3 阻变存储的研究现状 | 第18-19页 |
1.3 阻变和多种物理现象的耦合 | 第19-31页 |
1.3.1 阻变与光电效应的耦合 | 第19-23页 |
1.3.2 阻变与磁性的耦合 | 第23-26页 |
1.3.3 阻变与铁电性的耦合 | 第26-29页 |
1.3.4 阻变与超导的耦合 | 第29-31页 |
1.4 选题思路与研究内容 | 第31-33页 |
参考文献 | 第33-36页 |
第二章 NiO/NSTO器件电子型阻变与光注入耦合 | 第36-54页 |
2.1 前言 | 第36-37页 |
2.2 NiO/NSTO阻变器件的制备 | 第37-38页 |
2.3 NiO/NSTO阻变器件的性能 | 第38-46页 |
2.3.1 X射线光电子能谱分析 | 第38-39页 |
2.3.2 霍尔效应分析 | 第39页 |
2.3.3 X射线衍射结构分析 | 第39-41页 |
2.3.4 I-V特性分析 | 第41-43页 |
2.3.5 光注入阻变性能分析 | 第43-46页 |
2.4 NiO/NSTO器件阻变机制分析 | 第46-50页 |
2.5 本章小结 | 第50-51页 |
参考文献 | 第51-54页 |
第三章 Pt/YMO/Pt器件阻变性能与机制研究 | 第54-72页 |
3.1 前言 | 第54-55页 |
3.2 Pt/YMO/Pt阻变器件的制备 | 第55页 |
3.3 Pt/YMO/Pt阻变器件的性能 | 第55-66页 |
3.3.1 结构和形貌表征 | 第55-59页 |
3.3.2 阻抗谱分析 | 第59-60页 |
3.3.3 电压源两线法测试 | 第60-62页 |
3.3.4 电流源四线法测试 | 第62-63页 |
3.3.5 I-V线性拟合 | 第63-65页 |
3.3.6 R-T曲线分析 | 第65-66页 |
3.4 Pt/YMO/Pt器件阻变机制分析 | 第66-68页 |
3.5 本章小结 | 第68-69页 |
参考文献 | 第69-72页 |
第四章 YMnO_3/Nb:SrTiO_3器件阻变行为与铁电性的耦合 | 第72-88页 |
4.1 前言 | 第72页 |
4.2 YMO/NSTO阻变器件的制备 | 第72-73页 |
4.3 YMO/NSTO器件的性能 | 第73-82页 |
4.3.1 形貌与结构表征 | 第73-75页 |
4.3.2 阻抗谱表征 | 第75页 |
4.3.3 I-V性质分析 | 第75-78页 |
4.3.4 阻变性能测试 | 第78-79页 |
4.3.5 PFM分析 | 第79-82页 |
4.4 YMO/NSTO器件阻变机制分析 | 第82-85页 |
4.5 本章小结 | 第85-86页 |
参考文献 | 第86-88页 |
第五章 PBCO基器件阻变与超导特性的耦合 | 第88-108页 |
5.1 前言 | 第88-90页 |
5.2 PBCO基靶材及器件的制备 | 第90-91页 |
5.3 Pt/PBCO/Pt阻变器件性能及机制分析 | 第91-96页 |
5.3.1 PBCO靶材及薄膜的XRD谱表征 | 第91-92页 |
5.3.2 Pt/PBCO/Pt器件的I-V性质分析 | 第92-93页 |
5.3.3 Pt/PBCO/Pt器件阻变机制分析 | 第93-96页 |
5.4 PBCO/NSTO器件的阻变与超导的耦合 | 第96-104页 |
5.4.1 PBCO/NSTO的XRD谱分析 | 第96页 |
5.4.2 PBCO/NSTO的I-V性质分析 | 第96-99页 |
5.4.3 PBCO/NSTO的R-T性质分析 | 第99-104页 |
5.5 本章小结 | 第104-105页 |
参考文献 | 第105-108页 |
结论与展望 | 第108-110页 |
博士期间发表学术论文和专利情况 | 第110-112页 |
致谢 | 第112页 |