| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-9页 |
| 第一章 绪论 | 第14-29页 |
| 1.1 研究背景 | 第14页 |
| 1.2 含能材料微观结构影响起爆性能的研究进展 | 第14-17页 |
| 1.2.1 热点起爆 | 第14-15页 |
| 1.2.2 实验研究 | 第15-16页 |
| 1.2.3 理论计算研究 | 第16-17页 |
| 1.3 含能材料激光起爆的研究现状 | 第17-24页 |
| 1.3.1 实验研究 | 第17-23页 |
| 1.3.2 理论计算研究 | 第23-24页 |
| 1.4 激光与含能材料相互作用机理 | 第24-27页 |
| 1.4.1 激光热起爆机理 | 第24-25页 |
| 1.4.2 激光光化学起爆机理 | 第25-26页 |
| 1.4.3 激光冲击起爆机理 | 第26页 |
| 1.4.4 激光引发电离及等离子体起爆机理 | 第26-27页 |
| 1.5 本论文主要研究内容及创新点 | 第27-29页 |
| 1.5.1 主要研究内容 | 第27-28页 |
| 1.5.2 创新点 | 第28-29页 |
| 第二章 晶体生长理论与微观结构表征 | 第29-47页 |
| 2.1 引言 | 第29页 |
| 2.2 晶体生长理论 | 第29-35页 |
| 2.2.1 过饱和度 | 第29-30页 |
| 2.2.2 晶核形成 | 第30-33页 |
| 2.2.3 晶体生长过程 | 第33-35页 |
| 2.3 含能材料晶体生长 | 第35-39页 |
| 2.3.1 影响含能材料晶体生长的因素 | 第35-37页 |
| 2.3.1.1 过饱和度的影响 | 第35页 |
| 2.3.1.2 结晶温度的影响 | 第35-36页 |
| 2.3.1.3 溶剂的影响 | 第36-37页 |
| 2.3.1.4 搅拌的影响 | 第37页 |
| 2.3.2 RDX晶体生长 | 第37-39页 |
| 2.4 含能材料微观结构表征 | 第39-45页 |
| 2.4.1 光学显微镜（OM） | 第39-41页 |
| 2.4.2 扫描电子显微镜（SEM） | 第41页 |
| 2.4.3 透射电子显微镜（TEM） | 第41-43页 |
| 2.4.4 原子力显微镜（AFM） | 第43-44页 |
| 2.4.5 X射线衍射分析（XRD） | 第44-45页 |
| 2.5 本章小结 | 第45-47页 |
| 第三章 表面粗糙度对RDX炸药晶体激光感度的影响 | 第47-60页 |
| 3.1 引言 | 第47页 |
| 3.2 RDX晶体样品准备 | 第47-50页 |
| 3.2.1 大尺寸晶体生长 | 第47-48页 |
| 3.2.2 RDX晶面选择 | 第48-50页 |
| 3.2.3 晶体表面预处理 | 第50页 |
| 3.3 样品表征 | 第50-54页 |
| 3.3.1 SEM表征 | 第50-51页 |
| 3.3.2 AFM表征 | 第51-54页 |
| 3.4 激光起爆实验 | 第54-58页 |
| 3.4.1 实验装置 | 第54-55页 |
| 3.4.2 实验结果与讨论 | 第55-58页 |
| 3.5 本章小结 | 第58-60页 |
| 第四章 RDX炸药晶体不同波长激光的起爆特性研究 | 第60-74页 |
| 4.1 引言 | 第60页 |
| 4.2 样品制备 | 第60-61页 |
| 4.3 实验装置 | 第61-63页 |
| 4.3.1 激光实验装置 | 第61-62页 |
| 4.3.2 泵浦-探测超快成像技术 | 第62-63页 |
| 4.4 实验结果与讨论 | 第63-73页 |
| 4.4.1 激光感度 | 第63-65页 |
| 4.4.2 RDX晶体紫外激光起爆特性 | 第65-69页 |
| 4.4.2.1 RDX晶体损伤形貌分析 | 第66-68页 |
| 4.4.2.2 损伤面积和深度分析 | 第68-69页 |
| 4.4.3 RDX晶体近红外激光起爆特性 | 第69-73页 |
| 4.4.3.1 RDX晶体损伤形貌分析 | 第69-71页 |
| 4.4.3.2 激光起爆RDX晶体动力学过程分析 | 第71-73页 |
| 4.5 本章小结 | 第73-74页 |
| 第五章 微结构缺陷对RDX晶体激光感度影响的计算模拟 | 第74-115页 |
| 5.1 引言 | 第74页 |
| 5.2 FDTD方法概述 | 第74-85页 |
| 5.2.1 差分公式导出 | 第75-81页 |
| 5.2.2 数值稳定性条件 | 第81-83页 |
| 5.2.2.1 对时间步长的稳定性要求 | 第81-82页 |
| 5.2.2.2 对空间间隔的要求 | 第82-83页 |
| 5.2.3 计算区域的划分及边界条件 | 第83-84页 |
| 5.2.3.1 计算区域的划分 | 第83-84页 |
| 5.2.3.2 吸收边界条件 | 第84页 |
| 5.2.4 本文计算模拟参数 | 第84-85页 |
| 5.3 RDX炸药晶体划痕缺陷对激光光场的调制 | 第85-97页 |
| 5.3.1 模型建立 | 第85-86页 |
| 5.3.2 单个划痕缺陷对激光光场的调制 | 第86-92页 |
| 5.3.2.1 抛物型划痕 | 第86-89页 |
| 5.3.2.2 三角锥型划痕 | 第89-92页 |
| 5.3.3 多个划痕的偶合作用 | 第92-97页 |
| 5.3.3.1 平行划痕的调制作用 | 第92-94页 |
| 5.3.3.2 相交划痕的调制作用 | 第94-97页 |
| 5.4 RDX炸药晶体坑状缺陷对激光光场的调制 | 第97-104页 |
| 5.4.1 模型建立 | 第97-98页 |
| 5.4.2 单个坑状缺陷的情况 | 第98-102页 |
| 5.4.2.1 缺陷宽度和深度的影响 | 第98-102页 |
| 5.4.2.2 前后表面缺陷对比 | 第102页 |
| 5.4.3 多个坑状缺陷的调制 | 第102-104页 |
| 5.4.3.1 间隔距离的影响 | 第102-103页 |
| 5.4.3.2 不同缺陷个数的调制 | 第103-104页 |
| 5.5 RDX炸药晶体体内杂质对激光光场的调制 | 第104-112页 |
| 5.5.1 模型建立 | 第104-105页 |
| 5.5.2 体内气泡的影响 | 第105-108页 |
| 5.5.3 体内溶剂包藏的调制 | 第108-112页 |
| 5.5.3.1 丙酮溶剂包藏的调制 | 第108-110页 |
| 5.5.3.2 其他溶剂包藏的调制 | 第110-112页 |
| 5.6 微结构缺陷诱导RDX晶体起爆初步实验验证 | 第112-113页 |
| 5.7 本章小结 | 第113-115页 |
| 第六章 RDX炸药晶体微观结构高分辨TEM表征 | 第115-123页 |
| 6.1 引言 | 第115页 |
| 6.2 实验设备 | 第115-116页 |
| 6.3 RDX晶体电子辐照演化行为及辐照损伤阈值测算 | 第116-118页 |
| 6.3.1 电子束辐照下RDX晶体的结构演化行为 | 第116-117页 |
| 6.3.2 RDX晶体电子束辐照损伤阈值测算 | 第117-118页 |
| 6.4 Cs-Corr TEM下RDX晶体超精细结构表征 | 第118-121页 |
| 6.4.1 RDX晶体高分辨结构表征 | 第118-119页 |
| 6.4.2 RDX晶体结构缺陷的定量测定 | 第119-121页 |
| 6.5 本章小结 | 第121-123页 |
| 第七章 总结与展望 | 第123-126页 |
| 7.1 全文总结 | 第123-124页 |
| 7.2 展望 | 第124-126页 |
| 致谢 | 第126-128页 |
| 参考文献 | 第128-138页 |
| 攻读博士学位期间取得的成果 | 第138-139页 |
