荧光测铀系统的研究与应用
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| ·课题研究背景及意义 | 第8-9页 |
| ·铀浓度测量技术的研究现状与发展趋势 | 第9-12页 |
| ·论文主要研究内容 | 第12-13页 |
| ·论文结构 | 第13-14页 |
| 第二章 FPGA嵌入式系统 | 第14-22页 |
| ·FPGA概述 | 第14-16页 |
| ·SOPC概述 | 第16-17页 |
| ·NIOS II处理器 | 第17-20页 |
| ·Nios II嵌入式处理器简介 | 第17-18页 |
| ·Nios II嵌入式处理器的特点 | 第18-19页 |
| ·Nios II嵌入式处理器的结构组成 | 第19-20页 |
| ·AVALON总线 | 第20-21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章系统总体设计方案 | 第22-30页 |
| ·荧光测铀系统的基本原理 | 第22-24页 |
| ·铀浓度测量的意义 | 第22页 |
| ·荧光测铀系统的理论依据 | 第22-23页 |
| ·两种干扰源及其消除 | 第23-24页 |
| ·荧光测铀系统的方案选择 | 第24-25页 |
| ·荧光测铀系统FPGA芯片选择 | 第25-27页 |
| ·系统总体设计结构框图 | 第27-28页 |
| ·荧光测铀系统的浓度计算方法 | 第28页 |
| ·系统技术指标 | 第28-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第四章探测器结构设计 | 第30-34页 |
| ·探测器结构设计 | 第30-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 第五章系统硬件电路设计 | 第34-48页 |
| ·FPGA相关硬件电路设计 | 第34-43页 |
| ·FPGA硬件电路组织结构划分 | 第34-35页 |
| ·光电倍增管高压控制电路设计 | 第35-37页 |
| ·小信号放大电路设计 | 第37-38页 |
| ·A/D转换电路的设计 | 第38-40页 |
| ·模拟开关芯片工作电路设计 | 第40-42页 |
| ·电磁屏蔽设计 | 第42-43页 |
| ·STM32单片机相关硬件电路设计 | 第43-47页 |
| ·STM32硬件电路组织结构划分 | 第43-44页 |
| ·键盘电路设计 | 第44页 |
| ·嵌入式打印机电路设计 | 第44页 |
| ·USB通信电路设计 | 第44-45页 |
| ·TFT液晶屏电路设计 | 第45页 |
| ·温度测量电路设计 | 第45-46页 |
| ·电源部分设计 | 第46-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第六章系统软件规划与设计 | 第48-74页 |
| ·软件开发环境介绍 | 第48-49页 |
| ·Quartus II简介 | 第48页 |
| ·SOPC Builder简介 | 第48页 |
| ·Nios II IDE简介 | 第48-49页 |
| ·FPGA软件逻辑功能设计 | 第49-60页 |
| ·FPGA系统软件整体规划 | 第49-50页 |
| ·光源触发器激励脉冲逻辑设计 | 第50-52页 |
| ·模拟开关逻辑设计 | 第52-56页 |
| ·AD时钟分频逻辑设计 | 第56-57页 |
| ·AD采集与数据存储逻辑设计 | 第57-60页 |
| ·Flash读写控制器的逻辑设计 | 第60页 |
| ·STM32单片机程序软件设计 | 第60-62页 |
| ·基于FIFO机制的任务处理 | 第60-62页 |
| ·双Buffer缓存模式的液晶屏显示 | 第62页 |
| ·基于NIOS II嵌入式处理器的软件设计 | 第62-68页 |
| ·Nios II软件总体规划 | 第63-65页 |
| ·数据处理与算法设计 | 第65-68页 |
| ·上位机控制平台设计 | 第68-73页 |
| ·上位机软件规划 | 第68-69页 |
| ·上位机软件的模块化设计 | 第69-73页 |
| ·本章小结 | 第73-74页 |
| 第七章系统测试与实验 | 第74-83页 |
| ·测试平台的组成 | 第74-75页 |
| ·系统测试 | 第75-82页 |
| ·八小时稳定性测试 | 第76-77页 |
| ·线性相关系数、检出下限的测试与计算 | 第77-80页 |
| ·测量精度测试 | 第80-81页 |
| ·光电倍增管高压控制精确度测试 | 第81-82页 |
| ·本章小结 | 第82-83页 |
| 第八章总结与展望 | 第83-85页 |
| 参考文献 | 第85-87页 |
| 致谢 | 第87页 |
