星载电子设备活动多余物识别方法研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-17页 |
| ·课题背景及研究目的和意义 | 第10-11页 |
| ·电子元器件多余物检测方法研究现状 | 第11-13页 |
| ·国外研究现状 | 第11-12页 |
| ·国内研究现状 | 第12-13页 |
| ·基于PIND的多余物识别方法的研究现状 | 第13-16页 |
| ·多余物有无识别方法的研究现状 | 第13-15页 |
| ·多余物材质识别方法的研究现状 | 第15-16页 |
| ·本文主要研究内容 | 第16-17页 |
| 第2章 星载电子设备多余物识别方法总体方案 | 第17-24页 |
| ·引言 | 第17页 |
| ·多余物识别信号采集 | 第17-18页 |
| ·信号特征分析 | 第18-21页 |
| ·多余物信号 | 第19页 |
| ·组件信号 | 第19页 |
| ·干扰信号 | 第19-21页 |
| ·识别内容及技术指标 | 第21-22页 |
| ·主要识别内容 | 第21-22页 |
| ·主要识别技术指标 | 第22页 |
| ·识别方法总体研究方案 | 第22-23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 第3章 不含可动组件的电子设备多余物有无识别方法 | 第24-36页 |
| ·引言 | 第24页 |
| ·基于小波变换的阈值去噪方法 | 第24-31页 |
| ·小波变换与小波阈值去噪理论 | 第24-26页 |
| ·小波阈值去噪过程分析 | 第26-29页 |
| ·去噪效果分析 | 第29-31页 |
| ·基于脉冲提取的多余物有无识别方法 | 第31-33页 |
| ·实验验证 | 第33-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 第4章 含有可动组件的电子设备多余物有无识别方法 | 第36-46页 |
| ·引言 | 第36页 |
| ·信号预处理 | 第36-37页 |
| ·基于短时傅里叶分析的组件信号识别方法 | 第37-41页 |
| ·短时傅里叶变换 | 第37-38页 |
| ·时域特征提取 | 第38-39页 |
| ·频域特征提取 | 第39-40页 |
| ·时频综合特征距离判别方法 | 第40-41页 |
| ·多余物有无识别及实验验证 | 第41-43页 |
| ·置信度分析 | 第43-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第5章 星载电子设备多余物材质识别方法 | 第46-58页 |
| ·引言 | 第46页 |
| ·基于时域特征的材质识别方法 | 第46-47页 |
| ·基于频域特征的材质识别方法 | 第47-49页 |
| ·基于BP神经网络的时频综合材质识别方法 | 第49-51页 |
| ·BP神经网络 | 第49-51页 |
| ·综合材质识别方法 | 第51页 |
| ·实验验证 | 第51-54页 |
| ·基于时域特征的材质识别方法 | 第51-52页 |
| ·基于频域特征的材质识别方法 | 第52页 |
| ·基于BP神经网络的时频综合材质识别方法 | 第52-54页 |
| ·置信度分析 | 第54-56页 |
| ·基于时域特征的材质识别方法 | 第54页 |
| ·基于频域特征的材质识别方法 | 第54-55页 |
| ·基于BP神经网络的时频综合材质识别方法 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-58页 |
| 结论 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-62页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第62-64页 |
| 致谢 | 第64页 |
