| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 1. 绪论 | 第7-12页 |
| ·研究背景与意义 | 第7页 |
| ·国内外研究现状 | 第7-10页 |
| ·自动测试系统概述 | 第7-8页 |
| ·国内外研究情况 | 第8-10页 |
| ·研究的目的与意义 | 第10-12页 |
| 2. 相关理论与技术介绍 | 第12-23页 |
| ·IEEE1232 | 第12-14页 |
| ·IEEE1232简介 | 第12页 |
| ·AI-ESTATE体系结构 | 第12-14页 |
| ·SVM算法 | 第14-17页 |
| ·SVM算法概述 | 第14-15页 |
| ·SVM算法线性分析 | 第15-16页 |
| ·SVM算法的潜在缺点 | 第16-17页 |
| ·BP神经网络算法 | 第17-20页 |
| ·BP网络算法概述 | 第17页 |
| ·BP网络算法引源 | 第17-19页 |
| ·BP网络算法受到的限制 | 第19-20页 |
| ·AIS技术 | 第20-23页 |
| ·AIS技术概述 | 第20-21页 |
| ·AIS算法 | 第21页 |
| ·应用于模拟电路故障诊断的AIS算法研究 | 第21-23页 |
| 3. 基于IEEE1232的自动生成故障树技术 | 第23-35页 |
| ·AI-ESTATE故障树模型 | 第23-24页 |
| ·模拟电路故障诊断中故障树的作用 | 第23页 |
| ·AI-ESTATE模型体系信息 | 第23-24页 |
| ·AI-ESTATE故障树模型 | 第24-29页 |
| ·故障树模型 | 第24-25页 |
| ·故障树步骤 | 第25-26页 |
| ·开始结点 | 第26页 |
| ·测试结果 | 第26-27页 |
| ·模型规则 | 第27-28页 |
| ·结果输出 | 第28-29页 |
| ·AI-ESTATE-FTM图表 | 第29页 |
| ·调用SVM算法的AI-ESTATE故障树模型 | 第29-30页 |
| ·模拟电路自动生成故障树模块 | 第30-35页 |
| 4. 基于IEEE1232的模拟电路自动测试程序生成系统研究与实现 | 第35-47页 |
| ·AI-ESTATE扩充模型结构 | 第35-37页 |
| ·模拟测试交换格式数据 | 第37-39页 |
| ·模拟电路测试交换格式简介 | 第37页 |
| ·定义和术语 | 第37-38页 |
| ·ATIF标准环境数据组织的概述 | 第38-39页 |
| ·诊断知识生成协议 | 第39-40页 |
| ·模拟电路TPS自动生成系统结构框架 | 第40-41页 |
| ·模拟电路TPS自动生成系统实验验证 | 第41-47页 |
| 5. 总结与展望 | 第47-49页 |
| ·论文总结 | 第48页 |
| ·进一步的工作 | 第48-49页 |
| 参考文献 | 第49-52页 |
| 申请学位期间的研究成果及发表的学术论文 | 第52-53页 |
| 致谢 | 第53页 |