基于标准场法的低频磁场暴露计校准方法研究

摘要	第1-6页
Abstract	第6-8页
目录	第8-12页
第一章 绪论	第12-20页
·论文提出背景及意义	第12-13页
·我国量值溯源体系	第13-17页
·量值溯源途径	第14-16页
·量值溯源途径的选择	第16-17页
·低频磁场暴露计校准方法的国内外研究进展	第17-18页
·论文研究内容	第18-20页
第二章 低频磁场暴露计相关标准及测量原理	第20-31页
·引言	第20页
·采用低频磁场暴露计进行磁场测量的标准分析	第20-26页
·适用范围	第21页
·测量方法	第21-26页
·低频磁场暴露计测量原理	第26-30页
·交变磁场测量概述	第27页
·低频交变磁场测量方法	第27-30页
·测量方法的比较	第30页
·本章小结	第30-31页
第三章 低频磁场暴露计校准方法	第31-58页
·引言	第31页
·校准方法选择	第31-32页
·标准场的产生	第32页
·采用横电磁波室产生标准磁场	第32-34页
·横电磁波室的结构和原理	第32-33页
·横电磁波室磁场的计算	第33-34页
·亥姆霍兹线圈产生标准场	第34-45页
·亥姆霍兹线圈的结构和原理	第34-36页
·线圈大小的确定	第36-37页
·线圈的最高工作频率	第37-39页
·亥姆霍兹线圈标准场的产生	第39-45页
·正方形线圈产生标准场	第45-56页
·带电直导线磁场计算	第45-47页
·矩形线圈磁场计算	第47-48页
·正方形线圈磁场计算	第48-49页
·正方形线圈磁场强度及均匀区	第49-50页
·两正方形线圈组成的磁场校准装置磁场计算	第50-56页
·两种产生标准场线圈的比较	第56-57页
·本章小结	第57-58页
第四章 校准方案及实验验证	第58-71页
·引言	第58页
·两种常见低频磁场暴露计及其磁场校准方案	第58-62页
·电力用工频磁场暴露计	第58-60页
·产品认证用低频磁场暴露计	第60-62页
·线圈匝数的验证	第62-64页
·验证使用的设备	第62-63页
·验证原理及方法	第63页
·验证数据过程	第63-64页
·磁场强度验证	第64-69页
·双正方形线圈组成的标准场发生装置的验证	第65-66页
·亥姆霍兹线圈实验磁场数据的验证	第66-68页
·横电磁波室产生的弱磁场的验证	第68页
·双正方形线圈与亥姆霍兹线圈的比较验证	第68-69页
·低频磁场暴露计量值溯源图	第69-70页
·本章小结	第70-71页
第五章 测量不确定度评定	第71-82页
·引言	第71页
·亥姆霍兹线圈测量不确定度分析	第71-74页
·测量方法	第71-72页
·数学模型	第72页
·方差和传播系数	第72页
·标准不确定度一览表	第72-73页
·评定分量标准不确定度	第73-74页
·合成标准不确定度	第74页
·扩展不确定度	第74页
·考虑均匀性的测量不确定度	第74页
·双正方形线圈测量不确定度分析	第74-78页
·测量方法	第74-75页
·数学模型	第75页
·方差和传播系数	第75-76页
·标准不确定度一览表	第76页
·评定分量标准不确定度	第76-77页
·合成标准不确定度	第77页
·扩展不确定度	第77页
·考虑均匀性的测量不确定度	第77-78页
·横电磁波室测量不确定度分析	第78-81页
·测量方法	第78页
·数学模型	第78页
·方差和传播系数	第78-79页
·标准不确定度一览表	第79页
·评定分量标准不确定度	第79-80页
·合成标准不确定度	第80页
·扩展不确定度	第80页
·考虑均匀性的测量不确定度	第80-81页
·本章小结	第81-82页
结论	第82-83页
参考文献	第83-87页
攻读硕士学位期间撰写的论文	第87-88页
致谢	第88-89页
附件	第89页