摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-9页 |
1 前言 | 第9-15页 |
·SNP 的概念介绍及应用 | 第9页 |
·基于 RAD-seq 原理 SNP 标记开发数据分析流程 | 第9-10页 |
·SNP 分型数学算法介绍 | 第10-12页 |
·临界值法 | 第11页 |
·贝叶斯后验概率法 | 第11-12页 |
·ML 算法 | 第12页 |
·测序中的几个数学问题 | 第12-14页 |
·Lander-Waterman 模型 | 第12-13页 |
·测序错误 | 第13页 |
·测序覆盖度与位点覆盖度 | 第13-14页 |
·本研究的目的与意义 | 第14-15页 |
2 SNP de novo 分型影响因素理论分析 | 第15-20页 |
·基于 RAD-seq 技术的 de novo SNP 分型模型 | 第15页 |
·测序错误的影响理论分析 | 第15-16页 |
·重复序列的影响的理论分析 | 第16-18页 |
·测序错误和重复序列综合影响分析 | 第18页 |
·拟南芥基因组模拟分析 | 第18-20页 |
3 新的 de novo SNP 分型算法 iML | 第20-27页 |
·iML 算法介绍 | 第20-22页 |
·模拟数据对 iML 方法进行评价 | 第22-24页 |
·实际数据对 iML 方法进行评价 | 第24-27页 |
4 研究总结 | 第27-28页 |
参考文献 | 第28-29页 |
附录 | 第29-37页 |
致谢 | 第37页 |
个人简历 | 第37-38页 |
在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第38页 |